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科研机构
安徽大学 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2017 [3]
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发表日期:2017
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A single event transient detector in SRAM-based FPGAs
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2017, 卷号: Vol.14 No.12
作者:
Liang,Huaguo
;
Ni,Tianming
;
Xu,Xiumin
;
Yi,Maoxiang
;
Lu,Yingchun
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提交时间:2019/04/22
FLASH-BASED FPGAS
PROPAGATION
MITIGATION
Double-Node-Upset-Resilient Latch Design for Nanoscale CMOS Technology
期刊论文
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2017, 卷号: Vol.25 No.6, 页码: 1978-1982
作者:
Liang,Huaguo
;
Xu,Xiumin
;
Yi,Maoxiang
;
Yan,Aibin
;
Ouyang,Yiming
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/22
HIGH-PERFORMANCE
TOLERANT LATCH
SEU
COST
HLDTL: High-performance, low-cost, and double node upset tolerant latch design
期刊论文
Proceedings of the IEEE VLSI Test Symposium, 2017
作者:
Liang,Huaguo
;
Yi,Maoxiang
;
Cui,Jie
;
Yan,Aibin
;
Huang,Zhengfeng
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/04/22
NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY
RADIATION-HARDENED LATCH
SINGLE EVENT
CIRCUITS
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