×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
安徽大学 [23]
北京大学 [20]
西安交通大学 [16]
上海光学精密机械研... [13]
上海微系统与信息技... [11]
厦门大学 [9]
更多...
内容类型
期刊论文 [147]
学位论文 [10]
其他 [4]
会议论文 [3]
发表日期
2019 [8]
2018 [6]
2017 [26]
2016 [15]
2015 [16]
2014 [16]
更多...
学科主题
光学薄膜 [12]
Physics, A... [4]
Materials ... [2]
physics [2]
Chemistry,... [1]
Engineerin... [1]
更多...
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共164条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Charge trapping effect in HfO2-based high-k gate dielectric stacks after heavy ion irradiation: The role of oxygen vacancy
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 459, 页码: 143-147
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
;
Yao, Huijun
;
Zhang, Zhenxing
收藏
  |  
浏览/下载:34/0
  |  
提交时间:2022/01/19
High-k HfO2
Heavy ion irradiation
Reliability
Charge trapping
Oxygen vacancy
Latent Reliability Degradation of Ultrathin Amorphous HfO2 Dielectric After Heavy Ion Irradiation: The Impact of Nano-Crystallization
期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2019, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 1634-1637
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Jie
;
Zhai, Pengfei
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
收藏
  |  
浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2022/01/19
HfO2
heavy ion irradiation
reliability degradation
crystallization
The Optical Absorption and Photoluminescence Characteristics of Evaporated and IAD HfO2 Thin Films
期刊论文
COATINGS, 2019, 卷号: 9, 期号: 5
作者:
Kong, Mingdong
;
Li, Bincheng
;
Guo, Chun
;
Zeng, Peng
;
Wei, Ming
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2021/05/06
HfO2 thin films
optical absorption
photoluminescence
electron-beam deposition
ion-assisted deposition (IAD)
Laser-induced damage threshold in HfO2/SiO2 multilayer films irradiated by beta-ray
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2019, 卷号: 28, 页码: 024215
作者:
Fang, Mei-Hua
;
Tian, Peng-Yu
;
Zhu, Mao-Dong
;
Qi, Hong-Ji
;
Fei, Tao
收藏
  |  
浏览/下载:44/0
  |  
提交时间:2019/04/02
beta-ray irradiation
HfO2/SiO2 multilayer film
residual stress
laser-induced damage threshold
Operando diagnostic detection of interfacial oxygen "breathing' of resistive random access memory by bulk-sensitive hard X-ray photoelectron spectroscopy
期刊论文
MATERIALS RESEARCH LETTERS, 2019, 卷号: 7, 页码: 117-123
作者:
Niu, Gang
;
Calka, Pauline
;
Huang, Peng
;
Sharath, Sankaramangalam Ulhas
;
Petzold, Stefan
收藏
  |  
浏览/下载:24/0
  |  
提交时间:2019/11/19
interface
HfO2
resistive switching
RRAM
HAXPES
Fabrication and characterization of Pr6O11-HfO2 ultra-high temperature infrared radiation coating
期刊论文
JOURNAL OF THE EUROPEAN CERAMIC SOCIETY, 2019, 卷号: 39, 期号: 14, 页码: 4208-4215
作者:
Liu, Fusheng
;
Cheng, Xudong
;
Mao, Jiawei
;
Li, Shuhao
;
Shao, Hao
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2019/12/04
HfO2
Infrared radiation coating
Pr6O11
Ultra-high temperature
厚度对钇掺杂氧化铪薄膜性质的影响
期刊论文
中国陶瓷, 2019, 页码: 61-65
作者:
赵鹏
;
周大雨
;
孙纳纳
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/12/02
HfO2薄膜
厚度
成分
相结构
电性能
Enhanced Second Harmonic Generation from Ferroelectric HfO-Based Hybrid Metasurfaces
期刊论文
ACS Nano, 2019, 卷号: Vol.13 No.2, 页码: 1213-1222
作者:
Jun Qin
;
Fei Huang
;
Xinyue Li
;
Longjiang Deng
;
Tongtong Kang
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2019/12/13
ferroelectric Y:HfO2
metasurface
nonlinear photonics
plasmonics
second harmonic generation
Structural and electrical properties of reactive magnetron sputtered yttrium-doped HfO2 films
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27
作者:
Zhang, Yu
;
Xu, Jun
;
Zhou, Da-Yu
;
Wang, Hang-Hang
;
Lu, Wen-Qi
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/12/02
Y-doped HfO2
ultra-thin film
high-k
x-ray photoelectron spectrum
Structural and band gaps studies of novel Al2-xHfxO3 materials toward MOS applications
期刊论文
MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS, 2018, 卷号: 216, 页码: 237-242
作者:
Kamarulzaman, Norlida
收藏
  |  
浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2019/11/26
Al2O3
HfO2
Combustion
Rietveld refinement
Band gap
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace