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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing   An efficient small-delay faults simulator based on critical path tracing 期刊论文 International Journal of Circuit Theory and Applications, 2015, 卷号: Vol.43 No.8, 页码: 1015-1023 作者:  Liu, Tieqiao;  Kuang, Jishun;  Cai, Shuo;  You, Zhiqiang 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/31 IC testing  fault simulation  small-delay defects detecting  critical path tracing  waveform expression   Novel fault simulator for small-delay faults 期刊论文 Chinese Journal of Scientific Instrument, 2012, 卷号: Vol.33 No.10, 页码: 2356-2363 作者:  Hu, Jin;  Kuang, Jishun;  Liu, Tieqiao 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2020/01/05 fault simulation  small delay fault  critical path tracing   Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195 作者:  Li, HW;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/16 delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths   LFSR-based deterministic TPG for two-pattern testing 其他 2000-01-01 Li, XW; Cheung, PYS; Fujiwara, H 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 built-in self-test  two-pattern test  configurable LFSR  path delay faults   Exploiting deterministic TPG for path delay testing 期刊论文 计算机科学技术学报英文版, 2000 Li, XW; Cheung, PYS 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 built-in self-test (BIST)  path delay testing  deterministic TPG  configurable LFSR  BIST APPROACH