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科研机构
北京航空航天大学 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2015 [1]
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Multiphysics modeling approach for micro electro-thermo-mechanical actuator: Failure mechanisms coupled analysis
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2015, 卷号: 55, 页码: 771-782
作者:
Wang, Jinling
;
Zeng, Shengkui
;
Silberschmidt, Vadim V.
;
Guo, Jianbin
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提交时间:2020/01/06
mu ETMA
Multiphysics modeling
FMMEA
Coupled failure mechanisms
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