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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Code churn: A neglected metric in effort-aware just-in-time defect prediction 会议论文 11TH ACM/IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON EMPIRICAL SOFTWARE ENGINEERING AND MEASUREMENT (ESEM 2017), 2017-01-01 作者:  Liu, Jinping[1];  Zhou, Yuming[2];  Yang, Yibiao[3];  Lu, Hongmin[4];  Xu, Baowen[5] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/24 Defect  prediction  changes  just-in-time  code churn  unsupervised models  supervised models