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Total Ionizing Dose Effects of 55-nm Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Charge 期刊论文
CHIN. PHYS. LETT., 2018
作者:  Bi JS(毕津顺);  Xu YN(徐彦楠);  Li B(李博);  Xi K(习凯);  Wang HB(王海滨)
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/04/12
Heavy Ion Radiation Effects on a 130-nm COTS NVSRAM under Different Measurement Conditions 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 5, 页码: 1119-1126
作者:  Liu, TQ;  Liu, J;  Xi, K;  Zhang, ZG
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/08/04
Total ionizing radiation effects of 2-T SONOS for 130 nm/4 Mb NOR flash memory technology 期刊论文
2016, 2016
QIAO FengYing; PAN LiYang; YU Xiao; MA HaoZhi; WU Dong; XU Jun; QIAO FengYing; PAN LiYang; YU Xiao; MA HaoZhi; WU Dong; XU Jun
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新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
作者:  张兴尧
收藏  |  浏览/下载：89/0  |  提交时间：2014/08/05
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2014
作者:  张兴尧
收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2014/08/05
Demonstration of memory string with stacked junction-less SONOS realized on vertical silicon nanowire 其他
2011-01-01
Sun, Y.; Yu, H.Y.; Singh, N.; Leong, K.C.; Quek, E.; Lo, G.Q.; Kwong, D.L.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13
利用改进的电荷泵法研究SONOS存储器陷阱电荷的分布特性(英文) 期刊论文
2010, 2010
孙磊; 庞惠卿; 潘立阳; 朱钧; Sun Lei; Pang Huiqing; Pan Liyang; Zhu Jun
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Distribution and impact of local trapped charges in silicon-oxide-nitride-oxide-silicon (SONOS) memory 期刊论文
2010, 2010
Sun, L; Pan, LY; Zeng, Y; Pang, HQ; Wang, JM; Zhang, ZJ; Li, XY; Zhu, J
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Characteristics of band-to-band tunneling hot hole injection for erasing operation in charge-trapping memory 期刊论文
2010, 2010
Lei Sun; Liyang Pan; Huiqing Pang; Ying Zhng; Zhaojian Zhang; John Chen; Jun Zhu
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