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Strong interfacial coupling effects of ferroelectric polarization with two-dimensional electron gas in BaTiO3/MgO/AlGaN/GaN/Si heterostructures
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY C, 2019, 卷号: 7, 期号: 19, 页码: 5677
作者:
Li, Guanjie
;
Li, Xiaomin
;
Zhao, Junliang
;
Zhu, Qiuxiang
;
Chen, Yongbo
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2019/12/26
AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor high electron mobility transistors with reduced leakage current and enhanced breakdown voltage using aluminum ion implantation
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016, 卷号: 108, 期号: 1
作者:
Sun, SC
;
Fu, K(付凯)
;
Yu, GH(于国浩)
;
Zhang, ZL
;
Song, L
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2017/03/11
Influence of drain bias on the electron mobility in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22, 期号: 6
作者:
Lu Yuan-Jie
;
Feng Zhi-Hong
;
Cai Shu-Jun
;
Dun Shao-Bo
;
Liu Bo
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/23
AlGaN/GaN heterostructures
electron mobility
drain bias
electron
scattering
Influence of drain bias on the electron mobility in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
Chinese Physics B, 2013, 期号: 06, 页码: 522-525
作者:
Lv YJ(吕元杰)
;
Feng ZH(冯志红)
;
Cai SJ(蔡树军)
;
Dun SB(敦少博)
;
Liu B(刘波)
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/23
AlGaN/GaN heterostructures
electron mobility
drain bias
electron scattering
Influence of drain bias on the electron mobility in AIGaN/AIN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
中国物理B:英文版, 2013, 期号: 06, 页码: 518-521
作者:
吕元杰[1,2]
;
冯志红[1]
;
蔡树军[1]
;
敦少博[1]
;
刘波[1]
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/23
AlGaN/GaN heterostructures, electron mobility, drain bias, electron scattering
Improvement of Breakdown Characteristics of a GaN HEMT with AlGaN Buffer Layer
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2012, 卷号: 41, 期号: 3, 页码: 471
Chen, Y
;
Jiang, Y
;
Xu, PQ
;
Ma, ZG
;
Wang, XL
;
He, T
;
Peng, MZ
;
Luo, WJ
;
Liu, XY
;
Wang, L
;
Jia, HQ
;
Chen, H
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2013/09/17
ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS
SURFACE PASSIVATION
HETEROSTRUCTURES
SAPPHIRE
LEAKAGE
GROWTH
Impact of the misfit dislocations on two-dimensional electron gas mobility in semi-polar AlGaN/GaN heterostructures
期刊论文
applied physics letters, 2012, 卷号: 100, 期号: 8, 页码: 082101
Liu, Guipeng
;
Wu, Ju
;
Zhao, Guijuan
;
Liu, Shuman
;
Mao, Wei
;
Hao, Yue
;
Liu, Changbo
;
Yang, Shaoyan
;
Liu, Xianglin
;
Zhu, Qinsheng
;
Wang, Zhanguo
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2013/05/07
Impact of the misfit dislocations on two-dimensional electron gas mobility in semi-polar AlGaN/GaN heterostructures
期刊论文
applied physics letters, 2012, 卷号: 100, 期号: 8, 页码: 82101
Liu, GP
;
Wu, J
;
Zhao, GJ
;
Liu, SM
;
Mao, W
;
Hao, Y
;
Liu, CB
;
Yang, SY
;
Liu, XL
;
Zhu, QS
;
Wang, ZG
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2013/03/17
Influence of the ratio of gate length to drain-to-source distance on the electron mobility in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
NANOSCALE RESEARCH LETTERS, 2012, 卷号: 7
作者:
Lv, Yuanjie
;
Lin, Zhaojun
;
Meng, Lingguo
;
Luan, Chongbiao
;
Cao, Zhifang
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/12/23
electron mobility
drain-to-source distance
AlGaN/GaN heterostructures
polarization Coulomb field scattering
A theoretical calculation of the impact of gan cap and alxga1-xn barrier thickness fluctuations on two-dimensional electron gas in a gan/alxga1-xn/gan heterostructure
期刊论文
Ieee transactions on electron devices, 2011, 卷号: 58, 期号: 12, 页码: 4272-4275
作者:
Liu, Guipeng
;
Wu, Ju
;
Lu, Yanwu
;
Zhang, Biao
;
Li, Chengming
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/05/12
Cap-thickness-fluctuation (ctf) and barrierthickness fluctuation (btf) scattering
Interface roughness scattering
Two dimensional electron gas (2deg)
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