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Synergistic effect of enhanced low-dose-rate sensitivity and single event transient in bipolar voltage comparator LM139
期刊论文
JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 卷号: 56, 期号: 2, 页码: 172-178
作者:
Yao, S (Yao, Shuai)[ 1,2,3 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1,2,4 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1,2 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1,2,3 ]
收藏
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浏览/下载:84/0
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提交时间:2019/02/25
Enhanced low dose rate sensitivity
single event transient
bipolar voltage comparator
synergistic effect
Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, P (Li, Pei)[ 1 ]
;
He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ]
;
Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ]
;
Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2020/01/10
SiGe HBTs
Oxide isolation
ELDRS
EHPs generation
Holes trapping
Protons transportation
Mechanism of Degradation Rate on the Irradiated Double-Polysilicon Self-Aligned Bipolar Transistor
期刊论文
ELECTRONICS, 2019, 卷号: 8, 期号: 6, 页码: 1-8
作者:
Liu, MH (Liu, Mohan)[ 1,2 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1 ]
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2020/04/03
saturation effect
gain degradation
total ionizing dose
gamma ray
bipolar transistor
A Multi-Time-Step Finite Element Algorithm for 3-D Simulation of Coupled Drift-Diffusion Reaction Process in Total Ionizing Dose Effect
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING, 2018, 卷号: 31, 期号: 1, 页码: 183-189
作者:
Xu, Jingjie
;
Ma, Zhaocan
;
Li, Hongliang
;
Song, Yu
;
Zhang, Linbo
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2018/07/30
Drift-diffusion reaction
ELDRS
finite element method
multi-time-step algorithm
TID
An Investigation of ELDRS in Different SiGe Processes
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2017, 卷号: 64, 期号: 5, 页码: 1137-1141
作者:
Li, P (Li, Pei)
;
He, CH (He, Chaohui)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Zhang, JX (Zhang, Jinxin)
收藏
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2017/06/20
Different silicon-germanium (SiGe) process
emitter-base (EB)-spacer geometry
enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS)
isolation structure
混合工艺DAC及ADC的总剂量效应研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
作者:
王信
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2016/09/27
Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7
作者:
Zheng, QW (Zheng Qi-Wen)
;
Cui, JW (Cui Jiang-Wei)
;
Wang, HN (Wang Han-Ning)
;
Zhou, H (Zhou Hang)
;
Yu, DZ (Yu De-Zhao)
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2016/12/12
total ionizing dose effects
deep sub-micron
metal oxide semiconductor field effect transistor
static random access memory
Total ionizing dose effects of domestic SiGe HBTs under different dose rates
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 期号: 3
作者:
Liu, MH (Liu, Mo-Han)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
Ma, WY (Ma, Wu-Ying)
;
Wang, X (Wang, Xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2016/12/12
SiGe HBTs
TID
ELDRS
annealing
电压比较器电离辐射效应及加速评估方法的研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
作者:
马武英
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浏览/下载:96/0
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提交时间:2014/09/02
电离辐射
电压比较器
低剂量率辐射损伤增强效应
加速评估方法
混合工艺数模转换器总剂量效应研究
学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2013
作者:
王信
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2013/06/05
数模转换器
总剂量效应
BiCMOS CBCMOS LC2MOS 偏置
剂量率效应
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