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计算技术研究所 [6]
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中国科学院大学 [1]
内容类型
期刊论文 [13]
发表日期
2011 [1]
2010 [5]
2009 [1]
2008 [3]
2005 [1]
2003 [1]
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Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2011, 卷号: 30, 期号: 3, 页码: 455-463
作者:
Wu, Shianling
;
Wang, Laung-Terng
;
Wen, Xiaoqing
;
Jiang, Zhigang
;
Tan, Lang
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浏览/下载：7/0
|
提交时间：2019/12/16
Aligned launch-on-capture
at-speed scan testing
double-capture
hybrid launch-on-capture
launch-on-capture
one-hot launch-on-capture
staggered launch-on-capture
含存储器数字电路系统的自动测试生成
期刊论文
2010, 2010
成本茂
;
杨士元
;
王红
;
鞠艳秋
;
CHENG Ben-mao
;
YANG Shi-yuan
;
WANG Hong
;
JU Yan-qiu
收藏
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浏览/下载：2/0
A combination of partial reset and observation point insertion for synchronous sequential circuits
期刊论文
2010, 2010
Xiang Dong
;
Gu Shan
;
Xu Yi
收藏
|
浏览/下载：3/0
Seed encoding scheme based on scan forest architecture
期刊论文
2010, 2010
Luo Lu
;
Xiang Dong
收藏
|
浏览/下载：1/0
Study on the developing of TPS for digital PCB with RAM chips
期刊论文
2010, 2010
Cheng Ben-mao
;
Ju Yan-qiu
;
Wang Hong
;
Yang Shi-yuan
收藏
|
浏览/下载：5/0
ATPG for digital circuits with memory chips
期刊论文
2010, 2010
Cheng Ben-mao
;
Yang Shi-yuan
;
Wang Hong
;
Ju Yan-qiu
收藏
|
浏览/下载：3/0
一种新的面向应用的FPGA测试方法
期刊论文
北京大学学报 自然科学版, 2009
林腾
;
冯建华
;
赵建兵
;
王阳元
收藏
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浏览/下载：1/0
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提交时间：2015/10/23
面向应用的测试
现场可编程门阵列
自动测试向量生成
查找表
application-dependent testing
FPGA
ATPG
LUT
Design-for-testability features and test implementation of a giga hertz general purpose microprocessor
期刊论文
Journal of computer science and technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Wang, Da
;
Hu, Yu
;
Li, Hua-Wei
;
Li, Xiao-Wei
收藏
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浏览/下载：16/0
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提交时间：2019/05/10
Microprocessor design-for-testability
Test generation
Built-in self-test
At-speed testing
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Wang, Da
;
Hu, Yu
;
Li, Hua-Wei
;
Li, Xiao-Wei
收藏
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浏览/下载：13/0
|
提交时间：2019/12/16
microprocessor design-for-testability
test generation
built-in self-test
at-speed testing
Design-for-Testability Features and Test Implementation of a Giga Hertz General Purpose Microprocessor
期刊论文
Journal of Computer Science and Technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1037-1046
作者:
Da Wang(王 达)
;
Yu Hu(胡 瑜)
;
Hua-Wei Li(李华伟)
;
Xiao-Wei Li(李晓维)
收藏
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浏览/下载：16/0
|
提交时间：2010/11/02
Microprocessor Design-for-testability
Test Generation
Built-in Self-test
At-speed Testing
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