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兰州理工大学 [1]
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内容类型
期刊论文 [2]
会议论文 [1]
发表日期
2017 [3]
学科主题
Chemistry,... [1]
Materials ... [1]
Metallurgy... [1]
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发表日期:2017
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Switching transient analysis for normally-Off GaN transistors with p-GaN gate in a phase-Leg circuit
会议论文
作者:
Xie, Ruiliang
;
Xu, Guangzhao
;
Yang, Xu
;
Wang, Hanxing
;
Tian, Mofan
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/11/26
Analysis approach
Dynamic behaviors
Gallium Nitride (GaN)
Gan transistors
Intrinsic capacitance
Static measurements
Switching transient
Threshold-voltage instabilities
Mechanism for an enhanced resistive switching effect of bilayer NiOx/TiO2 for resistive random access memory
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2017, 卷号: 722, 页码: 753-759
作者:
Zhou,Guangdong
;
Xiao,Lihua
;
Zhang,Shuangju
;
Wu,Bo
;
Liu,Xiaoqin
收藏
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浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2017/10/23
Electric-field
Devices
Bipolar
Films
Heterostructures
Transition
Behaviors
Filament
Matrix
Cells
Bilay Niox/tio2 Films
Resistive Switching Memory
Migration Of Oxygen Vacancy
Ag Conduction Filamens
Tunable defect engineering in TiON thin films by multi-step sputtering processes: From a Schottky diode to resistive switching memory
期刊论文
Journal of Materials Chemistry C, 2017, 卷号: 5, 期号: 25, 页码: 6319-6327
作者:
Su, Teng-Yu
;
Huang, Chi-Hsin
;
Shih, Yu-Chuan
;
Wang, Tsang-Hsuan
;
Medina, Henry
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浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2020/11/14
Defects
Diodes
Rhenium compounds
RRAM
Schottky barrier diodes
Sputtering
Switching
Thin films
Titanium compounds
Conduction Mechanism
Defect distribution
Gradient distributions
Rectifying characteristics
Rectifying properties
Resistive Random Access Memory (ReRAM)
Resistive switching behaviors
Resistive switching memory
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