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科研机构
半导体研究所 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2006 [4]
2005 [2]
1998 [2]
学科主题
光电子学 [3]
半导体物理 [2]
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Interfaces in heterostructures of alingan/gan/al2o3
期刊论文
Superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
作者:
Zhou, SQ
;
Wu, MF
;
Yao, SD
;
Liu, JP
;
Yang, H
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/12
Nitride semiconductors
Interface
Rutherford backscattering/channeling
Transmission electron microscopy
X-ray diffraction
Interfaces in heterostructures of AlInGaN/GaN/Al2O3
期刊论文
superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
Zhou SQ
;
Wu MF
;
Yao SD
;
Liu JP
;
Yang H
收藏
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浏览/下载:45/0
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提交时间:2010/04/11
nitride semiconductors
interface
Rutherford backscattering/channeling
transmission electron microscopy
x-ray diffraction
SUPER-LATTICES
STRAIN
GAN
Chemical composition and elastic strain in AlInGaN quaternary films
期刊论文
thin solid films, 2006, 卷号: 515, 期号: 4, 页码: 1429-1432
Zhou, SQ (Zhou, Shengqiang)
;
Wu, MF (Wu, M. F.)
;
Yao, SD (Yao, S. D.)
;
Liu, JP (Liu, J. P.)
;
Yang, H (Yang, H.)
收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2010/03/29
Rutherford backscattering spectroscopy
Structural characterization of AlGaN/GaN superlattices by x-ray diffraction and Rutherford backscattering
期刊论文
superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 40, 期号: 3, 页码: 137-143
Zhou SQ (Zhou Shengqiang)
;
Wu MF (Wu M. F.)
;
Yao SD (Yao S. D.)
;
Zhang BS (Zhang B. S.)
;
Yang H (Yang H.)
收藏
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浏览/下载:24/0
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提交时间:2010/04/11
nitride semiconductors
superlattice
Rutherford backscattering/channeling
transmission electron microscopy
x-ray diffraction
MULTIPLE-QUANTUM WELLS
OPTICAL-PROPERTIES
INGAN/GAN
STRAIN
INTERFACE
GROWTH
GAN
Depth dependent elastic strain in zno epilayer: combined rutherford backscattering/channeling and x-ray diffraction
期刊论文
Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 2005, 卷号: 229, 期号: 2, 页码: 246-252
作者:
Feng, ZX
;
Yao, SD
;
Hou, L
;
Jin, RQ
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/05/12
Rutherford backscattering/channeling
Elastic strain
Tetragonal distortion
Lattice mismatich
Depth dependent elastic strain in ZnO epilayer: combined Rutherford backscattering/channeling and X-ray diffraction
期刊论文
nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 2005, 卷号: 229, 期号: 2, 页码: 246-252
Feng ZX
;
Yao SD
;
Hou L
;
Jin RQ
收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2010/03/17
rutherford backscattering/channeling
Structural study of ysi1.7 layers formed by channeled ion beam synthesis
期刊论文
Journal of vacuum science & technology b, 1998, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 1901-1906
作者:
Wu, MF
;
Yao, SD
;
Vantomme, A
;
Hogg, S
;
Pattyn, H
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/05/12
Structural study of YSi1.7 layers formed by channeled ion beam synthesis
期刊论文
journal of vacuum science & technology b, 1998, 卷号: 16, 期号: 4, 页码: 1901-1906
Wu MF
;
Yao SD
;
Vantomme A
;
Hogg S
;
Pattyn H
;
Langouche G
;
Yang QQ
;
Wang QM
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2010/08/12
YTTRIUM-SILICIDE LAYERS
ERSI1.7 LAYERS
COSI2 LAYERS
THIN-FILMS
IMPLANTATION
SI
DIFFRACTION
STABILITY
KINETICS
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