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科研机构
半导体研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [3]
专利 [2]
学位论文 [1]
发表日期
2008 [1]
2006 [2]
2005 [3]
学科主题
半导体材料 [2]
材料物理与化学 [1]
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专题:半导体研究所
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Dislocation scattering in alxga1-xn/gan heterostructures
期刊论文
Applied physics letters, 2008, 卷号: 93, 期号: 18, 页码: 3
作者:
Xu, Xiaoqing
;
Liu, Xianglin
;
Han, Xiuxun
;
Yuan, Hairong
;
Wang, Jun
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2019/05/12
Aluminium compounds
Dislocation density
Electron mobility
Gallium compounds
Iii-v semiconductors
Interface roughness
Semiconductor heterojunctions
Two-dimensional electron gas
Wide band gap semiconductors
一种在硅衬底上生长无裂纹Ⅲ族氮化物的方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2006-08-30, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15
作者:
黎大兵
;
韩修训
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浏览/下载:65/14
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提交时间:2009/06/11
Crack control in GaN grown on silicon (111) using In doped low-temperature AlGaN interlayer by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
optical materials, 2006, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 1227-1231
Wu JJ (Wu Jiejun)
;
Han XX (Han Xiuxun)
;
Li JM (Li Jiemin)
;
Wei HY (Wei Hongyuan)
;
Cong GW (Cong Guangwei)
;
Liu XL (Liu Xianglin)
;
Zhu QS (Zhu Qinsheng)
;
Wang ZG (Wang Zhanguo)
;
Jia QJ (Jia Quanjie)
;
Guo LP (Guo Liping)
;
Hu TD (Hu Tiandou)
;
Wang HH (Wang Huanhua)
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/04/11
in doping
cracks
Si(111) substrate
LT-AlGaN interlayer
metalorganic chemical vapor deposition
GaN
PHASE EPITAXY
INDIUM-SURFACTANT
OPTICAL-PROPERTIES
SI(111)
STRESS
FILMS
自适应柔性层制备无裂纹硅基Ⅲ族氮化物薄膜的方法
专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2005-12-28, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11, 2010-10-15
作者:
韩修训
;
黎大兵
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浏览/下载:57/3
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提交时间:2009/06/11
Ⅲ族氮化物低维结构的生长及物性研究
学位论文
博士, 北京: 中国科学院半导体研究所, 2005
作者:
韩修训
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浏览/下载:118/30
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提交时间:2009/04/13
缓冲层厚度对MOCVD法生长GaN外延薄膜性能的影响
期刊论文
人工晶体学报, 2005, 卷号: 34, 期号: 3, 页码: 466-470
作者:
韩修训
;
黎大兵
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2010/11/23
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