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	A Fine-Grained Software-Implemented DMA Fault Tolerance for SoC Against Soft Error 期刊论文 Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 2018, 卷号: 34, 页码: 717-733 作者: Du, Xiaozhi; Luo, Dongyang; He, Chaohui; Liu, Shuhuan 收藏 \| 浏览/下载：9/0 \| 提交时间：2019/11/19 DMA Fault injection Fault tolerance Soft error System on Chip (SoC)
	FFI4SoC: a Fine-Grained Fault Injection Framework for Assessing Reliability against Soft Error in SoC 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2018, 卷号: 34, 页码: 15-25 作者: Du, Xiaozhi; Luo, Dongyang; Shi, Kailun; He, Chaohui; Liu, Shuhuan 收藏 \| 浏览/下载：2/0 \| 提交时间：2019/11/26 Fault injection Reliability assessment SEU Systemon Chip (SoC) Fault tolerance assessment
	Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation 会议论文作者: Liu, Shuhuan; Du, Xuecheng; Du, Xiaozhi; Zhang, Yao; Mubashiru, Lawal Olarewaju 收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2019/11/26 Xilinx Zynq-7010 SoC DDR3 Failure modes Laser irradiation MicroZed
	Measurement of single event effects induced by alpha particles in the Xilinx Zynq-7010 System-on-Chip 期刊论文 JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2017, 卷号: 54, 页码: 287-292 作者: Du, Xuecheng; He, Chaohui; Liu, Shuhuan; Zhang, Yao; Li, Yonghong 收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2019/11/26 System-on-chip alpha particle single event effects radiation effect
	Single event effects sensitivity of low energy proton in Xilinx Zynq-7010 system-on chip 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2017, 卷号: 71, 页码: 65-70 作者: Du, Xuecheng; Liu, Shuhuan; Luo, Dongyang; Zhang, Yao; Du, Xiaozhi 收藏 \| 浏览/下载：6/0 \| 提交时间：2019/11/26 Proton irradiation Single event effects System on chip
	Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip 会议论文作者: Du, Xuecheng; He, Chaohui; Liu, Shuhuan; Zhang, Yao; Li, Yonghong 收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2019/12/02 Fault tree analysis Reliability System on Chip (SoC) Soft error rate
	Primary single event effect studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC) 会议论文作者: Zhang, Yao; Liu, Shuhuan; Du, Xuecheng; Yuan, Yuan; He, Chaohui 收藏 \| 浏览/下载：4/0 \| 提交时间：2019/12/02 System-on-Chip Irradiation experiments Single event effect Simulation
	Hot carrier effect on a single SiGe HBT's EMI response 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2015, 卷号: 55, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 2627-2633 作者: Xiong, Cen; Li, Yonghong; Liu, Shuhuan; Tang, Du; Zhang, Jinxin 收藏 \| 浏览/下载：3/0 \| 提交时间：2019/12/02 Hot carrier stress SiGe HBT EMI
	Hot carrier effect on the bipolar transistors' response to electromagnetic interference 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2015, 卷号: 55, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 514-519 作者: Xiong Cen; Liu Shuhuan; Li Yonghong; Tang Du; Zhang Jinxin 收藏 \| 浏览/下载：7/0 \| 提交时间：2019/12/02 Hot carrier stress BJT EMI
	Primary total ionizing dose effect studies on Xilinx SoC irradiated with Co-60 gamma rays 会议论文作者: Zhang, Yao; Du, Xin; Du, Xuecheng; He, Dongsheng; Zhang, Lingang 收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2019/12/02 SoC Experimental System TID experiment radiation effect TID chip

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