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	Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip
	Du, Xuecheng; He, Chaohui; Liu, Shuhuan; Zhang, Yao; Li, Yonghong; Xiong, Ceng; Tan, Pengkang
	2016
关键词	Fault tree analysis Reliability System on Chip (SoC) Soft error rate
卷号	831
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
页码	344-348
会议录	NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
URL标识	查看原文
ISSN号	0168-9002
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3226541
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Du, Xuecheng,He, Chaohui,Liu, Shuhuan,et al. Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip[C]. 见:.

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