QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Using post-breakdown conduction study in a MIS structure to better understand the resistive switching mechanism in an MIM stack 期刊论文 nanotechnology, 2011 Wu, Xing; Pey, Kin-Leong; Raghavan, Nagarajan; Liu, Wen-Hu; Li, Xiang; Bai, Ping; Zhang, Gang; Bosman, Michel 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/16 TRANSITION-METAL OXIDES  DIELECTRIC-BREAKDOWN  SILICON DIOXIDE  THIN-FILMS  MEMORY  RELIABILITY  NANOFILAMENTS  FABRICATION  DEVICES  LAYERS