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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他 2018-01-01 作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/05 Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他 2018-01-01 作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z. 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/05 Adding the missing time-dependent layout dependency into device-circuit-layout co-optimization-New findings on the layout dependent aging effects 其他 2016-01-01 Ren, Pengpeng; Xu, Xiaoqing; Hao, Peng; Wang, Junyao; Wang, Runsheng; Li, Ming; Wang, Jianping; Bu, Weihai; Wu, Jingang; Wong, Waisum; Yu, Shaofeng; Wu, Hanming; Lee, Shiuh-Wuu; Pan, David Z.; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2017/12/03 Understanding charge traps for optimizing Si-passivated Ge nMOSFETs 其他 2016-01-01 Ren, P.; Gao, R.; Ji, Z.; Arimura, H.; Zhang, J. F.; Wang, R.; Duan, M.; Zhang, W.; Franco, J.; Sioncke, S.; Cott, D.; Mitard, J.; Witters, L.; Mertens, H.; Kaczer, B.; Mocuta, A.; Collaert, N.; Linten, D.; Huang, R.; Thean, A. V.Y.; Groeseneken, G. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 Adding the Missing Time-Dependent Layout Dependency into Device-Circuit-Layout Co-Optimization -New Findings on the Layout Dependent Aging Effects 其他 2015-01-01 Ren, Pengpeng; Xu, Xiaoqing; Hao, Peng; Wang, Junyao; Wang, Runsheng; Li, Ming; Wang, Jianping; Bu, Weihai; Wu, Jingang; Wong, Waisum; Yu, Shaofeng; Wu, Hanming; Lee, Shiuh-Wuu; Pan, David Z.; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Enhanced and polarization dependence of surface-enhanced Raman scattering in silver nanoparticle array-nanowire systems (vol 102, 163108, 2013) 其他 2015-01-01 作者:  Dai, Z. G.;  Xiao, X. H.;  Liao, L.;  Ying, J. J.;  Mei, F. 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/05 A single device based voltage step stress (VSS) technique for fast reliability screening 其他 2014-01-01 Ji, Z.; Zhang, J.F.; Zhang, W.; Zhang, X.; Kaczer, B.; De Gendt, S.; Groeseneken, G.; Ren, P.; Wang, R.; Huang, R. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13