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Probing glassiness in Heuslers via density functional theory calculations 其他
2018-01-01
作者:  Entel, P.;  Gruner, M. E.;  Acet, M.;  Hucht, A.;  Çakır, A.
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/11/19
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018) 其他
2018-01-01
作者:  Aaij, R.;  Adeva, B.;  Adinolfi, M.;  Aidala, C. A.;  Ajaltouni, Z.
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/05
The assembly and function of the Annulate Lamellae pore complexes in Xenopus Egg extract and cultured mammalian cells. 其他
2016-01-01
Lu, L. Q.; Ren, H.; Guo, L.; Jiang, Q.; Clarke, P. R.; Zhang, C.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03
Understanding charge traps for optimizing Si-passivated Ge nMOSFETs 其他
2016-01-01
Ren, P.; Gao, R.; Ji, Z.; Arimura, H.; Zhang, J. F.; Wang, R.; Duan, M.; Zhang, W.; Franco, J.; Sioncke, S.; Cott, D.; Mitard, J.; Witters, L.; Mertens, H.; Kaczer, B.; Mocuta, A.; Collaert, N.; Linten, D.; Huang, R.; Thean, A. V.Y.; Groeseneken, G.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03
Validation of subjective and objective evaluation methods for orthodontic treatment outcome 其他
2015-01-01
Song G Y; Jiang R P; Zhang X Y; Liu S Q; Yu X N; Chen Q; Weng X R; Wu W Z; Su H; Ren C; Shan R K; Geng Z; Xu T M
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
A single device based voltage step stress (VSS) technique for fast reliability screening 其他
2014-01-01
Ji, Z.; Zhang, J.F.; Zhang, W.; Zhang, X.; Kaczer, B.; De Gendt, S.; Groeseneken, G.; Ren, P.; Wang, R.; Huang, R.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Characteristics of sub-1 nm CVD HfO2 gate dielectrics with HfN electrodes for advanced CMOS applications 其他
2004-01-01
Kang, J.F.; Yu, H.Y.; Ren, C.; Wang, X.P.; Li, M.-F.; Chan, D.S.H.; Liu, X.Y.; Han, R.Q.; Wang, Y.Y.; Kwong, D.-L.
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13
Selected topics on HfO2 gate dielectrics for future ULSI CMOS devices 其他
2004-01-01
Li, M.F.; Yu, H.Y.; Hou, Y.T.; Kang, J.F.; Wang, X.P.; Shen, C.; Ren, C.; Yeo, Y.C.; Zhu, C.X.; Chan, D.S.H.; Chin, Albert; Kwong, D.L.
收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13
Study of reliable link information frame in field bus communication 其他
2000-01-01
作者:  Huang, TS;  He, P;  Ren, QZ;  Li, DS
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