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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Primary investigation the impacts of the external memory (DDR3) failures on the performance of Xilinx Zynq-7010 SoC based system (MicroZed) using laser irradiation 会议论文 作者:  Liu, Shuhuan;  Du, Xuecheng;  Du, Xiaozhi;  Zhang, Yao;  Mubashiru, Lawal Olarewaju 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/11/26 Xilinx Zynq-7010 SoC  DDR3  Failure modes  Laser irradiation  MicroZed   Laser test studies on the single-sided dual-column 3D stripixelsilicon detector 会议论文 作者:  Liu, Shuhuan;  Li, Zheng;  Chen, Wei;  Montalbano, A.;  Xu, Hao 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/11/26 Alibava DAQ system  Stripixel silicon detector  Laser irradiation   Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip 会议论文 作者:  Du, Xuecheng;  He, Chaohui;  Liu, Shuhuan;  Zhang, Yao;  Li, Yonghong 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/02 Fault tree analysis  Reliability  System on Chip (SoC)  Soft error rate   Primary single event effect studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC) 会议论文 作者:  Zhang, Yao;  Liu, Shuhuan;  Du, Xuecheng;  Yuan, Yuan;  He, Chaohui 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/02 System-on-Chip  Irradiation experiments  Single event effect  Simulation   PRIMARY SIMULATION THE YIELD OF C-14 PRODUCED IN PWR DURING NORMAL OPERATION 会议论文 作者:  Liu Shuhuan;  Zhang Xin;  Wang Sanbing;  Zhao Yaolin;  He Chaohui 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/02 MCNP5  activity  PWR  C-14   Recent results of the 3D-stripixel Si detectors 会议论文 作者:  Li, Zheng;  Bassignana, D.;  Chen, Wei;  Liu, Shuhuan;  Lynn, David 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/02 Radiation hard detector  TCAD simulation  Stripixel  3D-Stripixel detectors   Primary total ionizing dose effect studies on Xilinx SoC irradiated with Co-60 gamma rays 会议论文 作者:  Zhang, Yao;  Du, Xin;  Du, Xuecheng;  He, Dongsheng;  Zhang, Lingang 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/02 SoC  Experimental System  TID experiment  radiation effect  TID  chip   Single Event Effects Testing of Xilinx Zynq-7010 SoC with Pu-239 Alpha Irradiation 会议论文 作者:  Du, Xuecheng;  Liu, Shuhuan;  He, Chaohui;  Du, Xin;  Li, Yonghong 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/03 Single Event Functional Interrupt (SEFI)  Single Event Effects (SEE)  System on chip (SoC)   Primary simulation the yield of14C produced in PWR during normal operation 会议论文 作者:  Liu, Shuhuan;  Zhang, Xin;  Wang, Sanbing;  Zhao, Yaolin;  He, Chaohui 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/03 Calculation models  Core structure  Environment control  MCNP5  Neutron reactions  Nitrogen impurity  Normal operations  Reference values