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| 一种密码芯片的安全检测方法及其装置 专利
申请日期: 2017-12-27, 公开日期: 2018-06-15
作者: 朱翔; 韩建伟; 马英起; 上官士鹏; 李悦
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| 一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者: 封国强; 马英起; 韩建伟; 上官士鹏; 朱翔
收藏 | 浏览/下载：16/0 | 提交时间：2016/01/14 |
| 一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者: 封国强; 马英起; 韩建伟; 上官士鹏; 朱翔
收藏 | 浏览/下载：47/0 | 提交时间：2016/01/14 |
| 一种暴露芯片衬底面的封装方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者: 封国强; 上官士鹏; 韩建伟; 马英起; 朱翔
收藏 | 浏览/下载：16/0 | 提交时间：2016/01/14 |
| 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-07-21, 公开日期: 2016-03-01
作者: 封国强; 马英起; 韩建伟; 上官士鹏; 朱翔
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| 激光微束背部辐照芯片试验的聚焦平面定位装置及方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-06-19, 公开日期: 2016-03-01
作者: 马英起; 韩建伟; 封国强; 姜昱光; 上官士鹏
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| FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 专利
申请日期: 2014-08-22, 公开日期: 2014-12-03
作者: 朱翔; 封国强; 韩建伟; 姜昱光; 上官士鹏
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| 一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2012-01-01, 公开日期: 2012-08-15
封国强; 韩建伟; 朱翔; 姜昱光; 上官士鹏; 陈睿; 马英起; 余永涛
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