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浏览/检索结果: 共10条，第1-10条 帮助 限定条件 发表日期：2008    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 ARCHITECTURE OF sigma(54)-DEPENDENT PROMOTERS: INTERPLAY BETWEEN CRP-cAMP AND P-11-NTR SYSTEMS FORMS A NOVEL REGULATORY NETWORK BETWEEN CARBON METABOLISM AND NITROGEN ASSIMILATION IN ESCHERICHIA COLI 其他 2008-01-01 Wang, Y. -P. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 Novel structural Ti/Al-based ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures 其他 2008-01-01 Dong, Zhihua; Wang, Jinyan; Yu, Min; Hao, Yilong; Wen, C. P.; Wang, Yangyuan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 AlGaN/GaN  ohmic contacts  surface morphology  PERFORMANCE  HEMTS  POWER   Understanding the resistance switching mechanisms of binary metal oxides with the percolation model 其他 2008-01-01 Yang, J. F.; Liu, L. F.; Sun, B.; Tang, H.; Xu, N.; Wang, Y.; Liu, X. Y.; Han, R. Q.; Kang, J. F.; Ma, T. P. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 BREAKDOWN   Transient leakage current technique for MIS HEMT (A12O3/AlGaN/GaN) dielectric semiconductor interface property characterization 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Chen, Hongwei; Hao, Y.L.; Lau, K.M.; Tang, C.W. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Transient Leakage Current Technique for MIS HEMT (Al(2)O(3)/AlGaN/GaN) Dielectric Semiconductor Interface Property Characterization 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Chen, Hongwei; Hao, Y. L.; Lau, K. M.; Tang, C. W. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Enhanced device performance of AlGaN/GaN HEMTs using thermal oxidation of electron-beam deposited Aluminum for gate oxide 其他 2008-01-01 Chen, Hongwei; Wang, Jinyan; Xu, Chuan; Yu, Min; Fu, Yang; Dong, Zhihua; Xu, Fujun; Hao, Yilong; Wen, Cheng P. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 AlGaN/GaN MOS-HEMTs  leakage current  thermal oxidation  electron-beam evaporation  FIELD-EFFECT TRANSISTORS  AL2O3   Experimental evidence of surface mobile holes on GaNHEMT structure 其他 2008-01-01 Wen, C. P.; Wang, J. Y.; Hao, Y. L.; Shen, B. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Comment on "Coherent control of a V-type three-level system in a single quantum dot'' - Reply 其他 2008-01-01 作者:   收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/05