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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An investigation of FinFET single-event latch-up characteristic and mitigation method 期刊论文 MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2020, 卷号: 114, 页码: 8 作者:  Li, Dongqing;  Liu, Tianqi;  Wu, Zhenyu;  Cai, Chang;  Zhao, Peixiong 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2021/12/13 TCAD  FinFET  SCR  SEL   A new method for directly locating single-event latchups using silicon pixel sensors in a gas detector 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2020, 卷号: 962, 页码: 6 作者:  Li, Zili;  Fan, Yan;  Wang, Zhen;  Liu, Jun;  Sun, Xiangming 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/01/18 SEL  Topmetal  CMOS  Silicon pixel sensor  Track projection   Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2016, 卷号: 27, 页码: 8 作者:  Liu, Tian-Qi;  Yang, Zhen-Lei;  Liu, Jie;  Wang, Xiao-Hui;  Su, Hong 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/05/31 Single-event effects (SEEs)  Flash-based FPGAs  HIRFL  Heavy ion experiments   Single event effect hardness for the front-end ASICs in the DAMPE satellite BGO calorimeter 期刊论文 CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 页码: 6 作者:  Gao, Shan-Shan;  Jiang, Di;  Feng, Chang-Qing;  Xi, Kai;  Liu, Shu-Bin 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2018/05/31 space electronics  single event effects  radiation hardness  heavy ion  pulsed laser   Radiation tolerance studies on the VA32 ASIC for DAMPE BGO calorimeter 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2014, 卷号: 25 作者:  Gao Shan-Shan;  Feng Chang-Qing;  Jiang Di;  Liu Shu-Bin;  Zhang Zhan-Gang 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/07/05 Radiation Effects  See  Tid  Asic  Va32hdr14.2   Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 会议论文 作者:  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM;  Quan, JM 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2018/08/20 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit   Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 会议论文 作者:  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM;  Quan, JM 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2018/08/20 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit   Heavy ion induced single event effects in semiconductor device 期刊论文 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 1998, 卷号: 135, 期号: 1-4, 页码: 239-243 作者:  Zhong, YJ;  Liu, J;  Ma, F;  Hou, MD;  Sun, YM 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2011/08/26 single event effect  heavy ion bombardment  large scale integrate circuit