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Role of the oxide trapped charges in charge coupled device ionizing radiation-induced dark signal 期刊论文
RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2021, 卷号: 189, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:  Li, YD (Li, Yudong);  Liu, BK (Liu, Bingkai);  Wen, L (Wen, Lin);  Wei, Y (Wei, Ying);  Zhou, D (Zhou, Dong)
收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2021/10/14
SiGe HBT单粒子效应敏感区域分布与加固设计研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
作者:  李培
收藏  |  浏览/下载：61/0  |  提交时间：2015/06/15
Simulation and sesign of single event effect radiation hardening for SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 11
作者:  Li, P (Li Pei);  Guo, HX (Guo Hong-Xia);  Guo, Q (Guo Qi);  Wen, L (Wen Lin);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei)
收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/07/11
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
作者:  张兴尧
收藏  |  浏览/下载：89/0  |  提交时间：2014/08/05
串口型铁电存储器总剂量辐射损伤效应和退火特性 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: 347-352
作者:  张兴尧;  郭旗;  陆妩;  张孝富;  郑齐文
收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2013/11/06
serial ferroelectric memory ionizing radiation effects and annealing characteristics 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 15, 页码: -
作者:  Zhang Xing-Yao;  Guo Qi;  Lu Wu;  Zhang Xiao-Fu;  Zheng Qi-Wen
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2013/11/07
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2010
作者:  李茂顺
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2016/05/26
Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应 期刊论文
强激光与粒子束, 2010, 卷号: 22, 期号: 11, 页码: 2724-2728
作者:  高博;  余学峰;  任迪远;  王义元;  李豫东
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2012/11/29
不同型号的星用Power MOSFET的辐射响应特性 期刊论文
核电子学与探测技术, 2007, 卷号: 27, 期号: 2, 页码: 347-349,334
作者:  刘刚;  余学锋;  任迪远;  牛振红;  高嵩
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/11/29

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