QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Role of the oxide trapped charges in charge coupled device ionizing radiation-induced dark signal 期刊论文 RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2021, 卷号: 189, 期号: 12, 页码: 1-5 作者:  Li, YD (Li, Yudong);  Liu, BK (Liu, Bingkai);  Wen, L (Wen, Lin);  Wei, Y (Wei, Ying);  Zhou, D (Zhou, Dong) 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2021/10/14 Radiation effectsTotal ionizing dose (TID)Charge coupled device (CCD)Dark signalOxide trapped charges   A study of hot pixels induced by proton and neutron irradiations in charge coupled devices 期刊论文 RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2020, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 540-550 作者:  Liu, BK (Liu, Bingkai)[ 1,2,3 ];  Li, YD (Li, Yudong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ];  Feng, J (Feng, Jie)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2020/07/06 Charge coupled devices (CCDs)  proton irradiation  neutron irradiation  hot pixels  displacement damage effects   CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院大学, 2015 作者:  文林 收藏  |  浏览/下载：111/0  |  提交时间：2015/06/15 电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元   CCD在不同注量率电子辐照下的辐射效应研究 期刊论文 原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 3, 页码: 346-350 作者:  李豫东;  郭旗;  陆妩;  周东;  何承发 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/11/29 Charge coupled devices  Electron irradiation  Experiments  Ionization   电荷耦合器件的~(60)Coγ射线和电子辐射损伤效应 期刊论文 原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 1, 页码: 124-128 作者:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  王义元 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/11/29 电荷耦合器件  位移损伤  γ射线  电子辐照