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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 22 nm体硅FinFET热载流子及总剂量效应研究 期刊论文 固体电子学研究与进展, 2020, 卷号: 40, 期号: 5, 页码: 384-388 作者:  王保顺;  崔江维;  郑齐文;  席善学;  魏莹 收藏  |  浏览/下载：59/0  |  提交时间：2020/11/17 鳍式场效应晶体管  热载流子注入效应  总剂量效应   总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019 作者:  赵京昊 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/07/15 电离总剂量辐射  热载流子效应  栅氧经时击穿  负偏置温度不稳定性   星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文 硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者:  余德昭 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2016/09/27 MOSFET  辐射效应  NBTI  可靠性   星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2016 作者:  余德昭 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2016/09/27 Mosfet  辐射效应  Nbti  可靠性   静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文 博士, 北京: 中国科学院大学, 2015 作者:  郑齐文 收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2015/06/15 大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法   静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2015 作者:  郑齐文 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2015/06/15 大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法   沟道宽长比对深亚微米NMOSFET总剂量辐射与热载流子损伤的影响 期刊论文 物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 347-353 作者:  崔江维;  余学峰;  任迪远;  卢健 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/11/29 深亚微米  总剂量辐射  热载流子效应