CORC

在结果中检索

CORC

浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助

限定条件                
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Laser-Induced Micro SEL Characterization of SRAM Devices 会议论文
San Antonio, TX, United states, July 8, 2019 - July 12, 2019
作者:  Yingqi, Ma;  Jianwei, Han;  Shipeng, Shangguan;  Xiang, Zhu;  Rui, Chen
收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2019/12/26
SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing 会议论文
Waikoloa, HI, United states, July 16, 2018 - July 20, 2018
作者:  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei;  Shangguan, Shipeng;  Chen, Rui;  Zhu, Xiang
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/03/05
单粒子翻转敏感区定位的脉冲激光试验研究 期刊论文
原子能科学技术, 2015, 卷号: 49, 期号: 1, 页码: 176-180
作者:  余永涛;  封国强;  上官士鹏;  陈睿;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/09/28
脉冲激光模拟SRAM器件单粒子翻转效应的试验方法研究 期刊论文
原子能科学技术, 2013, 卷号: 47, 期号: 11, 页码: 2137-2141
上官士鹏; 封国强; 余永涛; 姜昱光; 韩建伟
收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2014/04/30
基于脉冲激光单粒子效应的二次光斑研究 期刊论文
原子能科学技术, 2013, 卷号: 47, 期号: 12, 页码: 2361-2364
作者:  姜昱光;  封国强;  朱翔;  马英起;  上官士鹏
收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/10/29
SEE characteristics of small feature size devices by using laser backside testing 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:  Feng, Guoqiang;  Shangguan, Shipeng;  Ma, Yingqi;  Han, Jianwei
收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2014/12/15
Magnetic field rotation analysis and the applications 期刊论文
Journal of Geophysical Research-Space Physics, 2007, 卷号: 112, 期号: A6, 页码: A06211
Shen, C.; Li, X.; Dunlop, M.; Shi, Q. Q.; Liu, Z. X.; Lucek, E.; Chen, Z. Q.
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2014/04/30

©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace