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METHOD AND DEVICE FOR MEASURING SIMULTANEOUS AND INDEPENDENT MOTION OF MULTIPROBE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPE 专利
申请日期: 2022-03-24,
作者:  Liu LQ(刘连庆);  Shi JL(施佳林);  Yu P(于鹏)
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Light-emitting device and distance measurement device 专利
专利号: US20180109073A1, 申请日期: 2018-04-19, 公开日期: 2018-04-19
作者:  MIYAGAWA, SUGURU;  GOTO, YOSHIAKI;  TOKUDA, YOSHIKATSU
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Distance measurement light source and endoscope 专利
专利号: WO2017212700A1, 申请日期: 2017-12-14, 公开日期: 2017-12-14
作者:  YOSHIDA, HIROSHI;  FUJITA, GORO;  TANAKA, KENJI
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Lidar based 3-d imaging with far-field illumination overlap 专利
专利号: WO2017132704A1, 申请日期: 2017-08-03, 公开日期: 2017-08-03
作者:  HALL, DAVID S.;  REKOW, MATHEW NOEL;  KERSTENS, PIETER J.
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一种基于视觉图像的运粮车谷物装载状态检测方法及装置 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN106996751A, 申请日期: 2017-08-01,
作者:  张天;  胡静涛;  白晓平;  王鹤;  高雷
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IN-SITU ON-LINE DETECTION DEVICE AND METHOD FOR LONG-DISTANCE METALLURGICAL LIQUID METAL COMPONENT 专利
专利类型: 发明, 专利号: EP3023771A4, 申请日期: 2017-03-01,
作者:  Qi LF(齐立峰);  Sun LX(孙兰香);  Yu HB(于海斌);  Li Y(李洋);  Cong ZB(丛智博)
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IN-SITU ON-LINE DETECTION DEVICE AND METHOD FOR LONG-DISTANCE METALLURGICAL LIQUID METAL COMPONENT 专利
申请日期: 2017-03-01, 公开日期: 2020-08-19
作者:  Sun LX(孙兰香);  Yu HB(于海斌);  Xin Y(辛勇);  Qi LF(齐立峰);  Li Y(李洋)
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Optical measurement system incorporating ambient light component nullification 专利
专利号: US20170031009A1, 申请日期: 2017-02-02, 公开日期: 2017-02-02
作者:  DAVIDOVIC, MILOS;  ENNE, REINHARD;  STEINLE, GUNTHER;  GABERL, WOLFGANG
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遠距離冶金液体金属成分のための現場オンライン検出装置及び方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: JP2016522416A, 申请日期: 2016-07-28,
作者:  孙兰香;  于海斌;  辛勇;  齐立峰;  李洋
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IN-SITU ON-LINE DETECTION DEVICE AND METHOD FOR LONG-DISTANCE METALLURGICAL LIQUID METAL COMPONENT 专利
专利类型: 发明, 专利号: EP3023771A1, 申请日期: 2016-05-25,
作者:  Sun LX(孙兰香);  Yu HB(于海斌);  Xin Y(辛勇);  Qi LF(齐立峰);  Li Y(李洋)
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