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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 限定条件 学科主题：Physics    专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 research on sram functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: - 作者:  Zheng Qi-Wen;  Yu Xue-Feng 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2013/11/07 SRAM  function failure  test pattern  data retention fault   research on sram functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384 作者:  Zheng Qi-Wen;  Yu Xue-Feng;  Cui Jiang-Wei;  Guo Qi;  Ren Di-Yuan 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2013/11/07 Sram  Function Failure  Test Pattern  Data Retention Fault   research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: - 作者:  Li Ming;  Yu Xue-Feng;  Xue Yao-Guo;  Lu Jian;  Cui Jiang-Wei 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 partial-depletion-silicon-on insulator  static random access memory  total-dose effects  power supply current   The influence of channel size on total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFET 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: - 作者:  Cui Jiang-Wei;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Lu Jian 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 sub-micro  total dose irradiation  hot-carrier effect   PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究 期刊论文 核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456 作者:  李明;  余学峰;  卢健;  高博;  崔江维 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/11/29 PDSOI  SRAM  总剂量效应  功耗电流  退火效应   Degradation and dose rate effects of bipolar linear regulator on ionizing radiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: - 作者:  Wang Yi-Yuan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Guo Qi;  Yu Xue-Feng 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2012/11/29 bipolar linear regulators  total ionizing dose  dose rate effect  radiation damage   Ionizing radiation effect on 10-bit bipolar A/D converter 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2010, 卷号: 21, 期号: 3, 页码: 152-156 作者:  Chen Rui;  Lu Wu;  Ren Diyuan;  Zheng Yuzhan;  Wang Yiyuan 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2012/11/29 Bipolar Analog to Digital converters  (60)Co gamma Radiation  ELDRS  Bias condition   Dose-rate effects of low-dropout voltage regulator at various biases 期刊论文 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2010, 卷号: 21, 期号: 6, 页码: 352-356 作者:  Wang Yiyuan;  Lu Wu;  Ren Diyuan;  Zheng Yuzhan;  Gao Bo 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2012/11/29 Dose rate effects  ELDRS  Ionizing radiation  LDO voltage regulator   Characteristics of high- and low-dose-rate damage for domestic npn transistors of various emitter areas 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2009, 卷号: 58, 期号: 8, 页码: 5572-5577 作者:  Zheng Yu-Zhan;  Lu Wu;  Ren Di-Yuan;  Wang Yi-Yuan;  Guo Qi 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2012/11/29 emitter area  domestic npn transistors  dose rate  radiation damage