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科研机构
半导体研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [6]
发表日期
2006 [1]
2003 [2]
2002 [1]
2001 [1]
2000 [1]
学科主题
半导体物理 [6]
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学科主题:半导体物理
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Deep level transient spectroscopy studies of Er and Pr implanted GaN films
期刊论文
acta physica sinica, 2006, 卷号: 55, 期号: 3, 页码: 1407-1412
Song SF
;
Chen WD
;
Xu ZJ
;
Xu XR
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浏览/下载:45/0
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提交时间:2010/04/11
GaN
Er
Pr-implautation
deep level transient spectroscopy
N-TYPE GAN
DEFECTS
EPITAXY
TRAPS
Electron ground state energy level determination of ZnSe self-organized quantum dots embedded in ZnS
期刊论文
journal of applied physics, 2003, 卷号: 93, 期号: 9, 页码: 5325-5330
Lu LW
;
Yang CL
;
Wang J
;
Sou IK
;
Ge WK
收藏
  |  
浏览/下载:49/0
  |  
提交时间:2010/08/12
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
TRANSIENT SPECTROSCOPY
TEMPERATURE-DEPENDENCE
PHOTOLUMINESCENCE
WELL
EPILAYERS
SURFACE
Dose rate dependence of electrical characteristics of lead zirconate titanate capacitors
期刊论文
japanese journal of applied physics part 1-regular papers short notes & review papers, 2003, 卷号: 42, 期号: 10, 页码: 6491-6495
Zhang GQ
;
Sun P
;
Zou Q
;
Mei X
;
Ruda HE
;
Gu Q
;
Yu XF
;
Ren DY
;
Yan RL
收藏
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浏览/下载:1273/12
  |  
提交时间:2010/08/12
ionizing radiation
dose rate
PZT
dielectric constant
coercive field
C-V curves
remanent polarization
FERROELECTRIC PZT CAPACITORS
IONIZING-RADIATION
BORDER TRAPS
TRANSISTORS
DEGRADATION
MECHANISMS
MEMORIES
VOLTAGE
DEVICES
RAY
Optical and electrical characterizations of ZnSe self-organized quantum dots grown by molecular beam epitaxy
期刊论文
acta physica sinica, 2002, 卷号: 51, 期号: 2, 页码: 310-314
Lu LW
;
Wang ZG
;
Yang CL
;
Wang J
;
Ma ZH
;
Sou IK
;
Ge WK
收藏
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浏览/下载:93/10
  |  
提交时间:2010/08/12
II-VI semiconductor
self-organized quantum dots
optical and electrical properties
TEMPERATURE-DEPENDENCE
WELL STRUCTURES
LASER-DIODES
PHOTOLUMINESCENCE
SPECTROSCOPY
EPILAYERS
SURFACE
STATES
Electrical manifestation of the quantum-confined Stark effect by quantum capacitance response in an optically excited quantum well
期刊论文
physical review b, 2001, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: art.no.113305
作者:
Tan PH
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浏览/下载:84/1
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提交时间:2010/08/12
RESONANT-TUNNELING DIODES
SPACER LAYERS
SPECTROSCOPY
DOTS
HETEROSTRUCTURES
Studies of high DC current induced degradation in III-V nitride based heterojunctions
期刊论文
ieee transactions on electron devices, 2000, 卷号: 47, 期号: 7, 页码: 1421-1425
Ho WY
;
Surya C
;
Tong KY
;
Lu LW
;
Ge WK
收藏
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浏览/下载:38/0
  |  
提交时间:2010/08/12
current stressing
DLTS
flicker noise
heterojunctions
III-V nitride
LOW-FREQUENCY FLUCTUATIONS
RESONANT-TUNNELING DIODES
FLICKER NOISE
GALLIUM NITRIDE
1/F NOISE
DEVICES
TRANSISTORS
QUALITY
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