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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 学科主题：光电子学     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Microstructure and strain analysis of GaN epitaxial films using in-plane grazing incidence x-ray diffraction 期刊论文 chinese physics b, 2010, 卷号: 19, 期号: 7, 页码: art. no. 076804 Guo X (Guo Xi); Wang YT (Wang Yu-Tian); Zhao DG (Zhao De-Gang); Jiang DS (Jiang De-Sheng); Zhu JJ (Zhu Jian-Jun); Liu ZS (Liu Zong-Shun); Wang H (Wang Hui); Zhang SM (Zhang Shu-Ming); Qiu YX (Qiu Yong-Xin); Xu K (Xu Ke); Yang H (Yang Hui) 收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2010/08/17 in-plane grazing incidence x-ray diffraction  gallium nitride  mosaic structure  biaxial strain  CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  LATTICE-CONSTANTS  ALN   Evolution of mosaic structure in InN grown by metalorganic chemical vapor deposition 期刊论文 journal of crystal growth, 2006, 卷号: 293, 期号: 2, 页码: 269-272 Huang Y (Huang Y.); Wang H (Wang H.); Sun Q (Sun Q.); Chen J (Chen J.); Li DY (Li D. Y.); Zhang JC (Zhang J. C.); Wang JF (Wang J. F.); Wang YT (Wang Y. T.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2010/04/11 growth mode  X-ray diffraction  metalorganic chemical vapor deposition  indium nitride  X-RAY-DIFFRACTION  THREADING DISLOCATIONS  ELECTRON-TRANSPORT  BUFFER LAYER  THIN-FILMS  GAN FILMS  SAPPHIRE  ALN