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科研机构
半导体研究所 [5]
内容类型
期刊论文 [4]
会议论文 [1]
发表日期
2010 [1]
2006 [3]
1998 [1]
学科主题
光电子学 [5]
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学科主题:光电子学
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Effects of AlGaN/AlN Stacked Interlayers on GaN Growth on Si (111)
期刊论文
chinese physics letters, 2010, 卷号: 27, 期号: 3, 页码: art. no. 038103
Wang H (Wang Hui)
;
Liang H (Liang Hu)
;
Wang Y (Wang Yong)
;
Ng KW (Ng Kar-Wei)
;
Deng DM (Deng Dong-Mei)
;
Lau KM (Lau Kei-May)
收藏
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浏览/下载:96/3
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提交时间:2010/04/22
VAPOR-PHASE EPITAXY
TEMPERATURE ALN INTERLAYERS
CRACK-FREE GAN
STRESS-CONTROL
SI(111)
DEPOSITION
REDUCTION
THICKNESS
NITRIDE
LAYERS
Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells
期刊论文
applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050
作者:
Zhang SM
收藏
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浏览/下载:83/0
  |  
提交时间:2010/04/11
nitrides
multiple quantum wells
cracks
dislocations
vacancies x-ray diffraction
X-RAY-DIFFRACTION
EDGE DISLOCATIONS
GAN
FILMS
SUPERLATTICES
RELAXATION
STRAIN
Role of edge dislocations in enhancing the yellow luminescence of n-type GaN
期刊论文
applied physics letters, 2006, 卷号: 88, 期号: 24, 页码: art.no.241917
作者:
Jiang DS
;
Zhu JJ
;
Li XY
;
Zhang SM
;
Zhao DG
收藏
  |  
浏览/下载:47/0
  |  
提交时间:2010/04/11
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
X-RAY-DIFFRACTION
MG-DOPED GAN
UNDOPED GAN
PHOTOLUMINESCENCE BANDS
THREADING DISLOCATIONS
POSITRON-ANNIHILATION
GROWTH STOICHIOMETRY
GALLIUM NITRIDE
Effect of lightly Si doping on the minority carrier diffusion length in n-type GaN films
期刊论文
applied physics letters, 2006, 卷号: 88, 期号: 25, 页码: art.no.252101
Zhao DG (Zhao D. G.)
;
Jiang DS (Jiang D. S.)
;
Yang H (Yang Hui)
;
Zhu JJ (Zhu J. J.)
;
Liu ZS (Liu Z. S.)
;
Zhang SM (Zhang S. M.)
;
Liang JW (Liang J. W.)
;
Hao XP (Hao X. P.)
;
Wei L (Wei L.)
;
Li X (Li X.)
;
Li XY (Li X. Y.)
;
Gong HM (Gong H. M.)
收藏
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浏览/下载:57/0
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提交时间:2010/04/11
YELLOW LUMINESCENCE
ELECTRON-BEAM
VACANCIES
Dynamics of formation of defects in annealed InP
会议论文
conference on integrated optoelectronics ii, beijing, peoples r china, sep 18-19, 1998
Han YJ
;
Liu XL
;
Jiao JH
;
Lin LY
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2010/10/29
defects formation
hydrogen related defects
semi-insulating
InP
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