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近代物理研究所 [2]
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期刊论文 [4]
发表日期
2019 [4]
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发表日期:2019
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Charge trapping effect in HfO2-based high-k gate dielectric stacks after heavy ion irradiation: The role of oxygen vacancy
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 459, 页码: 143-147
作者:
Li, Zongzhen
;
Liu, Tianqi
;
Bi, Jinshun
;
Yao, Huijun
;
Zhang, Zhenxing
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2022/01/19
High-k HfO2
Heavy ion irradiation
Reliability
Charge trapping
Oxygen vacancy
6H-SiC blistering efficiency as a function of the hydrogen implantation fluence
期刊论文
APPLIED SURFACE SCIENCE, 2019, 卷号: 466, 页码: 141-150
作者:
Daghbouj, N.
;
Li, B. S.
;
Karlik, M.
;
Declemy, A.
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2019/03/27
Hydrogen implantation
6H-SiC
Smart-cut
Blistering
Strain
On-Demand Generation of Single Silicon Vacancy Defects in Silicon Carbide
期刊论文
ACS PHOTONICS, 2019, 卷号: 6, 期号: 7
作者:
Wang, Jun-Feng
;
Li, Qiang
;
Yan, Fei-Fei
;
Liu, He
;
Guo, Guo-Ping
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/12/05
silicon carbide
silicon vacancy
implantation
magnetic sensing
single photon sources
On-Demand Generation of Single Silicon Vacancy Defects in Silicon Carbide
期刊论文
ACS Photonics, 2019, 卷号: 6, 期号: 7
作者:
Wang, Jun-Feng
;
Li, Qiang
;
Yan, Fei-Fei
;
Liu, He
;
Guo, Guo-Ping
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2019/12/05
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