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科研机构
北京航空航天大学 [1]
内容类型
会议论文 [1]
发表日期
2018 [1]
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发表日期:2018
内容类型:会议论文
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Development of Auto Infrared Photoelastic Microscope for Stress Measurement of Silicon
会议论文
Proceedings - 2018 19th International Conference on Electronic Packaging Technology, ICEPT 2018
作者:
Li, T.
;
Yao, R.
;
Yu, C.
;
Su, F.
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提交时间:2019/12/30
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