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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 发表日期：2016     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Impact of the Effective Work Function Gate Metal on the Low-Frequency Noise of Gate-All-Around Silicon-on-Insulator NWFETs 期刊论文 IEEE Eletrcon Device Letters, 2016 作者:  Fang W(方雯);  Eddy Simoen;  Ye TC(叶甜春);  Zhao C(赵超);  Luo J(罗军) 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2017/05/09 Exploration of vertical scaling limit in carbon nanotube transistors 期刊论文 APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016 Qiu, Chenguang; Zhang, Zhiyong; Yang, Yingjun; Xiao, Mengmeng; Ding, Li; Peng, Lian-Mao 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 FIELD-EFFECT TRANSISTORS  ATOMIC LAYER DEPOSITION  HIGH-KAPPA DIELECTRICS  GATE DIELECTRICS  HIGH-PERFORMANCE  GRAPHENE  FILMS  MOSFET  OXIDE   High Performance Metal-Gate/High-kappa GaN MOSFET With Good Reliability for Both Logic and Power Applications 期刊论文 IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY, 2016 Yi, Shih-Han; Ruan, Dun-Bao; Di, Shaoyan; Liu, Xiaoyan; Wu, Yung Hsien; Chin, Albert 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2017/12/04 GaN  MOSFET  high-kappa  reliability  interface  ELECTRON-MOBILITY TRANSISTORS  INSULATOR   The Dual Effects of Gate Dielectric Constant in Tunnel FETs 期刊论文 IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY, 2016, 卷号: 4, 期号: 6 作者:  Wang, Hao;  Chang, Sheng;  He, Jin;  Huang, Qijun;  Liu, Feng 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/12/05 Tunnel FET  dielectric constant  gate oxide engineering  high-kappa  low-kappa