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浏览/检索结果: 共7条，第1-7条 帮助 限定条件 发表日期：2015    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 基于凭单制的公共就业培训准市场模式研究 其他 2015-06-01 魏丽艳; WEI Li-yan; 丁煜; DING Yu 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2016/03/03 公共就业培训  public vocational training  凭单制  the voucher system  政府购买服务  government purchasing service   Honeycomb-patterned PDMS membrane based on nanosphere lithography 其他 2015-01-01 Su, Zong-Ming; Zhang, Xiao-Sheng; Han, Meng-Di; Cheng, Xiao-Liang; Jiang, Xia; Yin, Xiang-Zhi; Zhang, Hai-Xia 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2017/12/03 Understanding of HCI degradation temperature dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV spectroscopy 其他 2015-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 An Investigation of DC/AC Hot Carrier Degradation in Multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X. Y.; Xu, N.; He, Y. D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 multi-gate FET  Silicon-on-insulator  hot carrier degradation  reliability  N-FINFETS  INJECTION  MOSFETS  GATE   Understanding of HCI Degradation Temperature Dependence in SOI STI-pLDMOSFETs from MR-DCIV Spectroscopy 其他 2015-01-01 He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xin 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/12/03 LDMOS TRANSISTORS   An Investigation of DC/AC hot carrier degradation in multiple-fin SOI FinFETs 其他 2015-01-01 Jiang, H.; Liu, X.Y.; Xu, N.; He, Y.D.; Du, G.; Zhang, X. 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Hi-fi Playback: Tolerating Position Errors in Shift Operations of Racetrack Memory 其他 2015-01-01 Zhang, Chao; Sun, Guangyu; Zhang, Xian; Zhang, Weiqi; Zhao, Weisheng; Wang, Tao; Liang, Yun; Liu, Yongpan; Wang, Yu; Shu, Jiwu 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 RELIABILITY  DESIGN