QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2013     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Simple Circuit to Investigate Threshold Voltage Variation and Its Application in Monitoring Negative Bias Temperature Instability Degradation 期刊论文 日本应用物理学杂志, 2013 Hong, Jie; He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 V-T EXTRACTOR  TRANSISTORS   A Simple circuit to investigate threshold voltage variation and its application in monitoring negative bias temperature instability degradation 其他 2013-01-01 Hong, Jie; He, Yandong; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/12/03 A monitoring circuit for NBTI degradation at 65nm technology node 其他 2013-01-01 He, Yandong; Hong, Jie; Zhang, Ganggang; Han, Lin; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 DIGITAL CIRCUITS  PERFORMANCE  IMPACT