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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2008    内容类型：外文期刊     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Charge storage characteristics of metal-induced nanocrystalline in erbium-doped amorphous silicon films 外文期刊 2008 作者:  Li, ZG;  Guan, WH;  Liu, M;  Long, SB;  Jia, R 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2010/11/26 Memory  Oxide  Fabrication  Er   Micro thermal shear stress sensor based on vacuum anodic bonding and bulk-micromachining 外文期刊 2008 作者:  Yi, L;  Ou, Y;  Shi, SL;  Ma, J;  Chen, DP 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2010/11/26 Study of strained-silicon channel metal-oxide-semiconductor field effect transistors by large angle convergent-beam electron diffraction 外文期刊 2008 作者:  Liu, HH;  Duan, XF;  Xu, QX;  Liu, BG 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/26 Layer Superlattices  Mobility Enhancement  Elastic Relaxation  Specimens  Crystals   Study on the dose rate upset effect of partially depleted silicon-on-insulator static random access memory 外文期刊 2008 作者:  Zhao, FZ;  Liu, MX;  Guo, TL;  Liu, G;  Hai, CH 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/11/26 Transient Radiation Upset  Cmos/sos Ram  Device  Environment   Atmospheric pressure plasma enhanced chemical vapor deposition of borophosphosilicate glass films 外文期刊 2008 作者:  Yin, MH;  Zhao, LL;  Xu, XY;  Wang, SG 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/11/26 Discharge  Sio2  Teos  Cvd