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浏览/检索结果: 共10条，第1-10条 帮助 限定条件 发表日期：2006    专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The effects of lt aln buffer thickness on the properties of high al composition algan epilayers 期刊论文 Materials letters, 2006, 卷号: 60, 期号: 29-30, 页码: 3693-3696 作者:  Wang, X. L.;  Zhao, D. G.;  Li, X. Y.;  Gong, H. M.;  Yang, H. 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/05/12 Algan  Lt aln  Taxrd  Dislocation   Reduction of dislocations in gan epilayer grown on si (111) substrates using a gan intermedial layer 期刊论文 Chinese physics letters, 2006, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 2591-2594 作者:  Wang Jian-Feng;  Zhang Bao-Shun;  Zhang Ji-Cai;  Zhu Jian-Jun;  Wang Yu-Tian 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/05/12 Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells 期刊论文 applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050 作者:  Zhang SM 收藏  |  浏览/下载：84/0  |  提交时间：2010/04/11 nitrides  multiple quantum wells  cracks  dislocations  vacancies x-ray diffraction  X-RAY-DIFFRACTION  EDGE DISLOCATIONS  GAN  FILMS  SUPERLATTICES  RELAXATION  STRAIN   Strain evolution in GaN layers grown on high-temperature AlN interlayers 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 15, 页码: art.no.152105 Wang JF (Wang J. F.); Yao DZ (Yao D. Z.); Chen J (Chen J.); Zhu JJ (Zhu J. J.); Zhao DG (Zhao D. G.); Jiang DS (Jiang D. S.); Yang H (Yang H.); Liang JW (Liang J. W.) 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2010/04/11 CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  STRESS EVOLUTION  DEFECT STRUCTURE  EPITAXIAL GAN  THIN-FILMS  ALGAN  DISLOCATIONS  RELAXATION  REDUCTION   Effects of grain size on the mosaic tilt and twist in InN films grown on GaN by metal-organic chemical vapor deposition 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 9, 页码: art.no.092114 Wang H (Wang H.); Huang Y (Huang Y.); Sun Q (Sun Q.); Chen J (Chen J.); Wang LL (Wang L. L.); Zhu JJ (Zhu J. J.); Zhao DG (Zhao D. G.); Zhang SM (Zhang S. M.); Jiang DS (Jiang D. S.); Wang YT (Wang Y. T.); Yang H (Yang H.) 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/04/11 X-RAY-DIFFRACTION  ELECTRON-TRANSPORT  EPITAXIAL GAN  BAND-GAP  DISLOCATIONS  SAPPHIRE  ALN   Probing deep level centers in GaN epilayers with variable-frequency capacitance-voltage characteristics of Au/GaN Schottky contacts 期刊论文 applied physics letters, 2006, 卷号: 89, 期号: 14, 页码: art.no.143505 Wang RX (Wang R. X.); Xu SJ (Xu S. J.); Shi SL (Shi S. L.); Beling CD (Beling C. D.); Fung S (Fung S.); Zhao DG (Zhao D. G.); Yang H (Yang H.); Tao XM (Tao X. M.) 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2010/04/11 DISLOCATIONS  DEGRADATION   The effects of LT AlN buffer thickness on the properties of high Al composition AlGaN epilayers 期刊论文 materials letters, 2006, 卷号: 60, 期号: 29-30, 页码: 3693-3696 Wang XL (Wang X. L.); Zhao DG (Zhao D. G.); Li XY (Li X. Y.); Gong HM (Gong H. M.); Yang H (Yang H.); Liang JW (Liang J. W.) 收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2010/04/11 AlGaN  LT AlN  TAXRD  dislocation   Interface effect on emission properties of Er-doped Si nanoclusters embedded in SiO2 prepared by magnetron sputtering 期刊论文 journal of applied physics, 2006, 卷号: 99, 期号: 9, 页码: art.no.094302 作者:  Jiang DS 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2010/04/11 ROOM-TEMPERATURE  SILICON  SEMICONDUCTORS  DISLOCATIONS  SPECTRA   Reduction of dislocations in GaN epilayer grown on Si (111) substrates using a GaN intermedial layer 期刊论文 chinese physics letters, 2006, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 2591-2594 Wang JF (Wang Jian-Feng); Zhang BS (Zhang Bao-Shun); Zhang JC (Zhang Ji-Cai); Zhu JJ (Zhu Jian-Jun); Wang YT (Wang Yu-Tian); Chen J (Chen Jun); Liu W (Liu Wei); Jiang DS (Jiang De-Sheng); Yao DZ (Yao Duan-Zheng); Yang H (Yang Hui) 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2010/04/11 CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION  HIGH-QUALITY GAN  ALN BUFFER LAYER  NUCLEATION LAYER  PHASE EPITAXY  EVOLUTION  DENSITY  SILICON  STRESS  SI   Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces 期刊论文 materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 275-278 Sun GS (Sun G. S.); Liu XF (Liu X. F.); Gong QC (Gong Q. C.); Wang L (Wang L.); Zhao WS (Zhao W. S.); Li JY (Li J. Y.); Zeng YP (Zeng Y. P.); Li JM (Li J. M.) 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2010/04/11 4H-SiC  homoepitaxial layers  surface morphological defect  optical microscopy  SILICON-CARBIDE  DISLOCATIONS  FILMS