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科研机构
兰州大学 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2005 [1]
学科主题
plasma phy... [1]
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Effects of negative bias and flux ratio on the properties of TiN thin films formed by filtered cathodic arc plasma technique
期刊论文
Acta Metallurgica Sinica (English Letters), 2005, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 369-374
作者:
Zhang, Y.J.
;
Yan, P.X.
;
Wu, Z.G.
;
Zhang, W.W.
;
Wang, J.
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提交时间:2016/10/21
Argon/nitrogen flux ratio
Filtered cathodic arc plasma (FCAP)
Filtered cathodic vacuum arc (FCVA) technique
Negative bias
Preferred orientation
TiN
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