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科研机构
半导体研究所 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2000 [4]
学科主题
半导体材料 [2]
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发表日期:2000
专题:半导体研究所
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A surface kinetics model for the growth of si1-xgex by uhv/cvd using sih4/ceh4
期刊论文
Journal of crystal growth, 2000, 卷号: 218, 期号: 2-4, 页码: 245-249
作者:
Yu, Z
;
Li, DZ
;
Cheng, BW
;
Huang, CJ
;
Lei, ZL
收藏
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/05/12
Sige/si
Epitaxial growth
Surface reaction kinetics
Uhv/cvd system
X-ray double-crystal characterization of the strain relaxation in gaas/ganxas1-x/gaas(001) sandwiched structures
期刊论文
Journal of crystal growth, 2000, 卷号: 217, 期号: 1-2, 页码: 26-32
作者:
Pan, Z
;
Wang, YT
;
Li, LH
;
Zhang, W
;
Lin, YW
收藏
  |  
浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Strain relaxation
Ganxas1-x/gaas
Photoluminescence
Rheed
X-ray double-crystal characterization of the strain relaxation in GaAs/GaNxAs1-x/GaAs(001) sandwiched structures
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 217, 期号: 1-2, 页码: 26-32
Pan Z
;
Wang YT
;
Li LH
;
Zhang W
;
Lin YW
;
Zhou ZQ
;
Wu RH
收藏
  |  
浏览/下载:48/0
  |  
提交时间:2010/08/12
x-ray diffraction
strain relaxation
GaNxAs1-x/GaAs
photoluminescence
RHEED
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
TEMPERATURE PULSED OPERATION
BAND-GAP ENERGY
NITROGEN
GAASN
GANXAS1-X
GAAS1-XNX
ALLOYS
LASERS
LAYERS
A surface kinetics model for the growth of Si1-xGex by UHV/CVD using SiH4/CeH4
期刊论文
journal of crystal growth, 2000, 卷号: 218, 期号: 2-4, 页码: 245-249
Yu Z
;
Li DZ
;
Cheng BW
;
Huang CJ
;
Lei ZL
;
Yu JZ
;
Wang QM
;
Liang JW
收藏
  |  
浏览/下载:45/0
  |  
提交时间:2010/08/12
SiGe/Si
epitaxial growth
surface reaction kinetics
UHV/CVD system
CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION
ATOMIC-HYDROGEN
ADSORPTION
SI(100)
SI2H6
SIH4
MECHANISMS
DESORPTION
PHASE
FILMS
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