Performance Analysis in Serial-section Electron Microscopy Image Registration of Neuronal Tissue | |
Chen BH(陈波昊)2,3; Xin T(辛桐)2,3; Han H(韩华)1,2,4,5; Chen X(陈曦)2 | |
2022-04 | |
会议日期 | 2022-1 |
会议地点 | 美国圣地亚哥 |
关键词 | Registration accuracy Serial section Neuronal structure Spherical deformation model |
卷号 | 12032 |
页码 | 702-709 |
国家 | 美国 |
英文摘要 | Serial-section electron microscopy is a widely used technique for neuronal circuit reconstruction. However, the continuity of neuronal structure is destroyed when the tissue block is cut into a series of sections. The neuronal morphology in different sections changes with their locations in the tissue block. These content changes in adjacent sections bring a diffculty to the registration of serial electron microscopy images. As a result, the |
语种 | 英语 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/48582] |
专题 | 类脑智能研究中心_微观重建与智能分析 |
通讯作者 | Chen X(陈曦) |
作者单位 | 1.中国科学院大学未来技术学院 2.中国科学院自动化研究所 3.中国科学院大学人工智能学院 4.中国科学院脑科学与智能技术卓越创新中心 5.中国科学院自动化研究所模式识别国家实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Chen BH,Xin T,Han H,et al. Performance Analysis in Serial-section Electron Microscopy Image Registration of Neuronal Tissue[C]. 见:. 美国圣地亚哥. 2022-1. |
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