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科研机构
半导体研究所 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2006 [1]
学科主题
半导体材料 [1]
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Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity Si sensors/detectors
期刊论文
materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 283-287
Li Z (Li Z.)
;
Li CJ (Li C. J.)
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提交时间:2010/04/11
DLTS
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detectors
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