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重庆大学 [1]
内容类型
其他 [12]
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2019 [1]
2018 [2]
2013 [2]
2012 [1]
2008 [5]
2000 [1]
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共12条，第1-10条
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75
80
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Measurement of Upsilon production in pp collisions at root s = 13TeV (vol 134, 1804.09214, 2018)
其他
2019-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Ajaltouni, Z.
;
Akar, S.
收藏
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浏览/下载：38/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Aidala, C. A.
;
Ajaltouni, Z.
收藏
|
浏览/下载：13/0
|
提交时间：2019/12/05
Measurement of the CKM angle using B-+/- DK +/- with D -> KS0(+-),(KsK+K-)-K-0 decays (vol 08, 176, 2018)
其他
2018-01-01
作者:
Aaij, R.
;
Adeva, B.
;
Adinolfi, M.
;
Aidala, C. A.
;
Ajaltouni, Z.
收藏
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浏览/下载：7/0
|
提交时间：2019/12/05
Brain tumors
其他
2013-01-01
作者:
Wong, Franklin C. L.
;
Duan, Xiaoyi
;
Kim, E. Edmund
收藏
|
浏览/下载：5/0
|
提交时间：2019/12/03
Head and neck tumors
其他
2013-01-01
作者:
Wong, Franklin C. L.
;
Duan, Xiaoyi
;
Kim, E. Edmund
收藏
|
浏览/下载：10/0
|
提交时间：2019/12/03
Conditional immortalization establishes a repertoire of mouse melanocyte progenitors with distinct melanogenic differentiation potential.
其他
2012-01-01
作者:
Yang, Ke[1]
;
Chen, Jin[2]
;
Jiang, Wei[3]
;
Huang, Enyi[4]
;
Cui, Jing[2]
收藏
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浏览/下载：8/0
|
提交时间：2019/11/30
Local accumulated free carriers in charge trapping memory
其他
2008-01-01
Song, Y.C.
;
Liu, X.Y.
;
Zhaol, K.
;
Kang, J.F.
;
Han, R.Q.
;
Xia, Z.L.
;
Kim, D.
;
Lee, K.-H.
收藏
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浏览/下载：4/0
|
提交时间：2015/11/10
Evaluating the effects of physical mechanisms on the program, erase and retention in the charge trapping memory
其他
2008-01-01
Song, Y.C.
;
Liu, X.Y.
;
Wang, Z.Y.
;
Zhao, K.
;
Du, G.
;
Kang, J.F.
;
Han, R.Q.
;
Xia, Z.L.
;
Kim, D.
;
Lee, K.-H.
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2015/11/10
Evaluating the Effects of Physical Mechanisms on the Program, Erase and Retention in the Charge Trapping Memory
其他
2008-01-01
Song, Y. C.
;
Liu, X. Y.
;
Wang, Z. Y.
;
Zhao, K.
;
Du, G.
;
Kang, J. F.
;
Han, R. Q.
;
Xia, Z. L.
;
Kim, D.
;
Lee, K-H
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2015/11/13
Charge Trapping Memory
Non-volatile Memory
Simulation of Programming/Erasing/Retention Characteristics
Local Accumulated Free Carriers in Charge Trapping Memory
其他
2008-01-01
Song, Y. C.
;
Liu, X. Y.
;
Zhao, K.
;
Kang, J. F.
;
Han, R. Q.
;
Xia, Z. L.
;
Kim, D.
;
Lee, K-H
收藏
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浏览/下载：2/0
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提交时间：2015/11/13
SILICON-NITRIDE
DIOXIDE
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