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科研机构
安徽大学 [9]
内容类型
期刊论文 [9]
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2019 [1]
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2016 [1]
2013 [1]
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Radiation-Hardened 14T SRAM Bitcell With Speed and Power Optimized for Space Application
期刊论文
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2019, 卷号: Vol.27 No.2, 页码: 407-415
作者:
Changyong Liu
;
Xiulong Wu
;
Zhiting Lin
;
Junning Chen
;
Jiati Huang
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/04/24
A dual-output hardening design of inverter chain for P-hit single-event transient pulse elimination
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2018, 卷号: Vol.15 No.15
作者:
Li, Xuan
;
Chen, Ziyang
;
Zeng, Xuan
;
Lin, Zhiting
;
Liu, Changyong
收藏
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浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2019/04/24
inverter chain
P-hit
single-event transient
A dual-output hardening design of inverter chain for P-hit single-event transient pulse elimination
期刊论文
IEICE Electronics Express, 2018, 卷号: Vol.15 No.15
作者:
Li, Xuan
;
Chen, Ziyang
;
Zeng, Xuan
;
Lin, Zhiting
;
Liu, Changyong
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/04/24
A Dual-Output Hardening Design of Inverter Chain for P-hit Single-Event Transient Pulse Elimination
期刊论文
IEICE Electron. Express, 2018
作者:
Li Xuan
;
Chen Ziyang
;
Wu Xiulong
;
Zhao Qiang
;
Liu Changyong
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/04/24
inverter
chain
P-hit
single-event
transient
Pressure-Induced Metallization and Robust Superconductivity in Pristine 1T-SnSe2
期刊论文
Advanced Electronic Materials, 2018, 卷号: Vol.4 No.8
作者:
Cai, Kaiming
;
Yuan, Yifang
;
Chen, Chunhua
;
Zhou, Yonghui
;
An, Chao
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/04/24
A radiation harden enhanced Quatro (RHEQ) SRAM cell
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2017, 卷号: Vol.14 No.18
作者:
Liu,Changyong
;
Zhang,Jingbo
;
Chen,Ziyang
;
Peng,Chunyu
;
Lin,Zhiting
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/04/22
LATCH DESIGN
TOLERANT
TECHNOLOGY
UPSET
SEU
A Pipeline Replica Bitline Technique for Suppressing Timing Variation of SRAM Sense Amplifiers in a 28-nm CMOS Process
期刊论文
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, 2017, 卷号: Vol.52 No.3, 页码: 669-677
作者:
Liu,Changyong
;
Guan,Lijun
;
Chen,Junning
;
Li,Zhi
;
Peng,Chunyu
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/24
DESIGN
Modification of electrical properties and carrier transportation mechanism of ALD-derived HfO2/Si gate stacks by Al2O3 incorporation
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2016, 卷号: Vol.667, 页码: 352-358
作者:
Sun,Zhaoqi
;
Liu,Mao
;
Chen,Hanshuang
;
Gao,Juan
;
Xiao,Dongqi
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/22
TEMPERATURE-DEPENDENCE
LEAKAGE CURRENT
DIELECTRICS
OXIDE
FILMS
SI
CAPACITORS
THICKNESS
An Improved Phase Comparator for the Fast-Locking All Digital SARDLL
期刊论文
Applied Mechanics and Materials, 2013, 卷号: Vol.303-306, 页码: 1849-1853
作者:
Chen,Junning
;
Xu,Tailong
;
Lu,Shibin
;
Pan,Hao
;
Zheng,Changyong
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/24
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