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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：大连理工大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Measurement of residual stress in a multi-layer semiconductor heterostructure by micro-Raman spectroscopy 期刊论文 ACTA MECHANICA SINICA, 2016, 卷号: 32, 页码: 805-812 作者:  Qiu, Wei;  Cheng, Cui-Li;  Liang, Ren-Rong;  Zhao, Chun-Wang;  Lei, Zhen-Kun 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/09 Residual stress  Multi-layer semiconductor heterostructure  Micro-Raman spectroscopy (MRS)  Strained silicon  Germanium silicon