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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2018     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Atomic layer deposition of ZnO thin film on surface modified monolayer MoS2 with enhanced photoresponse 期刊论文 CERAMICS INTERNATIONAL, 2018, 卷号: 44, 页码: 23310-23314 作者:  Lv, Wenquan;  Liu, Jie;  He, Yuan;  You, Junhua 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/03/27 Thin film  Atomic layer deposition  Optical materials and properties  MoS2  ZnO   Determination of refractive index and thickness of YbF3 thin films deposited at different bias voltages of APS ion source from spectrophotometric methods 期刊论文 ADVANCED OPTICAL TECHNOLOGIES, 2018, 卷号: 7, 期号: 1-2, 页码: 33-37 作者:  Zhang, Yinhua;  Xiong, Shengming;  Huang, Wei;  Zhang, Kepeng 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/08/23 Bias Voltage  Refractive Index  Transmittance Spectra  Ybf3 Thin Film   Preparation of -alumina/silica core-shell abrasives and their chemical mechanical polishing performances on sapphire substrates 期刊论文 MICRO & NANO LETTERS, 2018, 卷号: 13, 页码: 1315-1320 作者:  Wang, Xin[1];  Lei, Hong[2] 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/22 scanning electron microscopy  abrasives  surface roughness  friction  X-ray photoelectron spectra  abrasion  secondary ion mass spectra  silicon compounds  alumina  transmission electron microscopy  chemical mechanical polishing  composite materials  materials preparation  time of flight mass spectra  surface morphology  sapphire  core-shell structure  time-of-flight secondary ion mass spectroscopy  scanning electron microscopy  transmission electron microscopy  sapphire substrates  che