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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Atomic force microscopy - Deposition - Optical constants - Refractive index - Spectrophotometers - Spectrophotometry - Surface roughness - Thin films - Vapor deposition     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Simultaneous determination of optical constants, thickness, and surface roughness of thin film from spectrophotometric measurements 期刊论文 Optics Letters, 2013, 卷号: 38, 期号: 1, 页码: 40-42 作者:  Guo, Chun;  Kong, Mingdong;  Gao, Weidong;  Li, Bincheng 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2016/11/21