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一种薄膜样品全自动裁切方法与装置 专利
专利号: ZL201910879174.2, 申请日期: 2021-03-02,
作者:  花昌义;  李志刚;  叶超;  王善锋;  孙淼
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一种配方烟丝中膨胀烟丝全自动分离仪及其控制方法 专利
专利号: CN105910943B, 申请日期: 2019-03-01,
作者:  邓国栋;  花昌义;  李志刚;  堵劲松;  张大波
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一种具有Janus结构的复合纳米粒子及其制备方法和应用 专利
专利号: CN106421822A, 申请日期: 2017-02-22, 公开日期: 2017-02-22
作者:  祖柏儿;  吴爱国;  曾乐勇;  马雪华
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III族氮化物发光器件 专利
专利号: CN103180973A, 申请日期: 2013-06-26, 公开日期: 2013-06-26
作者:  M.J.格伦德曼恩;  N.F.加德纳;  W.K.戈伊茨;  M.B.麦克劳林;  J.E.埃普勒
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一种利用地下水中Fe(Ⅱ)与Mn(Ⅱ)进行除砷的方法 专利
专利号: CN102583810A, 申请日期: 2011-01-10, 公开日期: 2012-07-18
作者:  曲久辉;  吴鹍;  徐伟;  兰华春;  刘会娟
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一种海水中亚铁、三价铁及总铁含量的测定方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201010110284.1, 申请日期: 2010-07-21, 公开日期: 2010-07-21
吴志昊; 尤锋; 马得友; 徐冬冬; 张培军; 徐永立
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一种海水中亚铁  ②向步骤①所得经酸化的水样中加入1-2mol/L氢氧化钠溶液   Fe ( II ) l&alpha  ③向1-5mL空白对照溶液   - A 2 &epsiv  其中   Fe ( III ) l &epsiv  已知浓度的标准溶液配制方法为   Fe ( II ) l&alpha  ④在562nm波长下   ( &epsiv  ⑤取0.8-4mL测定吸光度后的空白对照溶液   Fe ( II ) l - &epsiv  室温静置5-10min后   Fe ( III ) l ) C Fe ( III ) = A 2 - A 1 &alpha  ⑥在562nm波长下   &alpha  ⑦重复步骤⑤   ( &epsiv  在562nm波长下   Fe ( II ) l - &epsiv  ⑧亚铁   Fe ( III ) l ) CFe(t)=CFe(II)+CFe(III)其中   C Fe ( II ) = A 1 &epsiv  三价铁及总铁含量的测定方法  氢氧化钠溶液与水样的体积比为1∶(20-100)  已知浓度的标准溶液及待测水样中分别加入100-500μL用0.05-0.2mol/L乙酸铵水溶液配制的0.01-0.05mol/L菲咯嗪一钠盐溶液显色  空白对照溶液配制方法为  取pH已经调至4-6的空白对照溶液  先将空白对照溶液的吸光度设置为零后  标准溶液及待测水样  再加入50-250μL用氨水配制的pH为9-10的10mol/L乙酸铵水溶液混匀  先将空白对照溶液的吸光度设置为零后  先将空白对照溶液的吸光度设置为零后  三价铁和总铁浓度计算  l为比色皿的光径。  其特征在于  使水样pH在4-6之间  先配制与待测水样初始盐度一致的氯化钠水溶液  加入FeCl3使其总铁浓度为0.1-1mg/L  测定标准溶液及待测水样的吸光度A1样  加入150-750μL用1-3mol/L盐酸配制的1-2mol/L的盐酸羟胺溶液混匀  测定标准溶液及待测水样的吸光度A2样  测定标准溶液的吸光度A3标  通过标准溶液的总铁浓度及其测定的3次吸光度先根据下述公式计算出亚铁和三价铁的吸光系数εFe(II)  具体步骤如下:①采集10-100mL水样  作为待测水样  再加入1-2mol/L盐酸使其pH在4-6之间  A1标  A2标  εFe(III)以及α  立即加入1-2mol/L盐酸  α=A3/A2  盐酸与水样的体积比为1∶(20-100)  以此再结合水样测定的2次吸光度利用下述公式计算出海水水样中亚铁CFe(II)  使水样pH至1-2  三价铁CFe(III)及总铁CFe(t)浓度  作为酸化水样  密封  室温下备用  
集積回路の製造方法 专利
专利号: JP2512218B2, 申请日期: 1996-04-16, 公开日期: 1996-07-03
作者:  松田 薫;  成沢 忠
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半導体発光素子 专利
专利号: JP1995326817A, 申请日期: 1995-12-12, 公开日期: 1995-12-12
作者:  倉又 朗人
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III-V Semiconductor heterostructure contacting a P-type II-VI compound 专利
专利号: US5442204, 申请日期: 1995-08-15, 公开日期: 1995-08-15
作者:  MENSZ, PIOTR M.
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化合物半導体装置の製造方法 专利
专利号: JP1994013316A, 申请日期: 1994-01-21, 公开日期: 1994-01-21
作者:  古川 幸生;  織田 仁
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