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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：会议     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Single event effects in COTS ferroelectric RAM technologies (EI收录) 会议 Boston, MA, United states, 作者:  Zhang, Zhangang[1,2];  Lei, Zhifeng[1];  Yang, Zhenlei[3];  Wang, Xiaohui[3];  Wang, Bin[3] 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/04/11 Bismuth  Ferroelectric films  Ferroelectricity  Heavy ions  Ions  Mirrors  Optical testing  Radiation  Radiation hardening  Random access storage  Static random access storage