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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Study of Point Spread in the Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy 期刊论文 MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, 2014, 卷号: 20, 期号: 5, 页码: 1447 Ge, BH; Wang, YM; Chang, YJ; Yao, Y 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/04/14 point spread  peak width  aberration-corrected transmission electron microscopy  quantitative electron microscopy  negative C-s imaging  positive C-s imaging   Direct imaging of layered O3-and P2-NaxFe1/2Mn1/2O2 structures at the atomic scale 期刊论文 PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS, 2014, 卷号: 16, 期号: 40, 页码: 21946 Lu, X; Wang, YS; Liu, P; Gu, L; Hu, YS; Li, H; Demopoulos, GP; Chen, LQ 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2015/04/14 Direct atomic-scale confirmation of three-phase storage mechanism in Li4Ti5O12 anodes for room-temperature sodium-ion batteries 期刊论文 NATURE COMMUNICATIONS, 2013, 卷号: 4 Sun, Y; Zhao, L; Pan, HL; Lu, X; Gu, L; Hu, YS; Li, H; Armand, M; Ikuhara, Y; Chen, LQ; Huang, XJ 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2014/01/16 Direct Observation and Distinction of the Inner/Outer Layers of Surfactant Bilayer Formed at the Solid/Solution Interface 期刊论文 JOURNAL OF DISPERSION SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2010, 卷号: 31, 期号: 1, 页码: 38 Cao, MW; Wang, XL 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2013/09/17 ATOMIC-FORCE MICROSCOPY  CETYLTRIMETHYLAMMONIUM BROMIDE  HEXADECYLTRIMETHYLAMMONIUM BROMIDE  DIELECTRIC EXCHANGE  GEMINI SURFACTANTS  NEUTRON REFLECTION  AQUEOUS-SOLUTION  WATER INTERFACE  DODECYL-SULFATE  NANOMETER-SCALE   Atomic-scale imaging and manipulation of ridges on epitaxial graphene on 6H-SiC(0001) 期刊论文 NANOTECHNOLOGY, 2009, 卷号: 20, 期号: 35 Sun, GF; Jia, JF; Xue, QK; Li, L 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2013/09/17 SURFACE   Nanometre moire fringes in scanning tunnelling microscopy of surface lattices 期刊论文 NANOTECHNOLOGY, 2004, 卷号: 15, 期号: 8, 页码: 991 Guo, HM; Liu, HW; Wang, YL; Gao, HJ; Shang, HX; Liu, ZW; Xie, HM; Dai, FL 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2013/09/24 ELECTRON-BEAM MOIRE  DEFORMATION MEASUREMENT  GRAPHITE  IMAGES  MICROGRAPHS  BOUNDARIES  PATTERNS