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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：上海技术物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Spectroscopic-ellipsometry characterization of the interface layer of PbZr0.40Ti0.60O3/LaNiO3/Pt multilayer thin films 期刊论文 Journal of Vacuum Science & Technology A, 2004, 卷号: 22, 期号: 4 作者:  Z. G. Hu;  Z. M. Huang;  Y. N. Wu;  G. S. Wang;  X. J. Meng 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2011/11/30 INFRARED OPTICAL CHARACTERIZATION OF PLT THIN FILMS FOR APPLICATIONS IN UNCOOLED INFRARED DETECTORS 期刊论文 International Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2003, 卷号: 24, 期号: 11 作者:  Z. G. Hu;  F. W. Shi;  Z. M. Huang;  Y. N. Wu;  G. S. Wang 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2011/11/30 Microphotoluminescence mapping on CdZnTe: Zn distribution 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2001, 卷号: 90, 期号: 1 作者:  Z.-F. Li;  W. Lu;  G. S. Huang;  J. R. Yang;  L. He et al 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2011/11/30 Subband electron properties of modulation-doped AlxGa1-xNxGaN heterostructures with different barrier thicknesses 期刊论文 APPLIED PHYSICS LETTERS, 2001, 卷号: 79, 期号: 3 作者:  C. P. Jiang;  S. L. Guo;  Z. M. Huang;  J. Yu;  Y. S. Gui 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2011/11/30 Ultraviolet-infrared optical properties of highly (100)-oriented LaNiO3 thin films on Pt–Ti–SiO2–Si wafer 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2001, 卷号: 90, 期号: 6 作者:  J. Yu;  J. L. Sun;  X. J. Meng;  Z. M. Huang;  J. H. Chu 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2011/11/30